注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:光耦合器
饱和电压,反向截止电流,电流传输比,正向压降,反向电流,反向击穿电压,集电极-发射极反向击穿电压测试等
测试周期:7-10个工作日,试验可加急
半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法 SJ2215.9-1982SJ2215.9-1982
半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 SJ2215.2-1982
半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法 SJ2215.4-1982SJ22154-1982
半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法 SJ2215.5-1982S/2215.5-1982
半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 SJ2215.7-1982SJ2215.7-1982
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(光耦合器测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
上一篇: 电压比较器测试
下一篇: DC/DC变换器测试