注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:光电耦合器
集电极-发射极饱和电压VCE(sat),集电极-发射极截止电流ICEO,集电极-发射极击穿 电压V(BR)CEO,反向电流IR,正向电压VF,电流传输比hF(ctr)
测试周期:7-10个工作日,试验可加急
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分光电子器件测试方法 GB/T15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-2015
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分光电子器件测试方法 GB/T15651.3-2003
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(光电耦合器测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。