低功率非线绕固定电阻器测试

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

测试样品：低功率非线绕固定电阻器

测试项目：外观检查，尺寸，电阻值，耐电压(仅对绝缘型电阻器)，可焊性，过载，温度快速变化，阻值随温度变化，引出端强度，耐焊接热，振动，气候顺序，70℃而耐久性，稳态湿热，上限类别温度耐久性，其它温度耐久性测试等。

测试周期：7-10个工作日，试验可加急

测试标准

GB 5730-1985|电子设备用固定电阻器第二部分：分规范：低功率非线绕固定电阻器(可供认证用)

GB 5731-1985 电子设备用固定电阻器第二部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)

SJ/T 10617-2017 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E

SJ/T 10774-2000 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E

SJ/T 10774-2017 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E

SJ/T 10775-2013 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E

SJ/T 10872-2000 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E

SJ/T 11113-2013 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E

SJ2674-1986 电子器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器评定水平E

SJ2675-1986 电子器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ17型金属膜固定电阻器评定水平E

SJ2865-1988 电子器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RF 10型涂覆型熔断电阻器 评定水平E

SJ2867-1988 电子器件详细规范低功率非线绕固定电阻器R I40型玻璃釉膜固定电阻器评定水平E

SJ2868-1988 电子器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ20型金属膜电阻器评定水平E

电阻器测试

固定电阻器测试

固定电阻网络测试

各电阻器可单独测量的固定电阻网络检测

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（低功率非线绕固定电阻器测试）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。