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绝缘栅双极晶体管测试

原创发布者:北检院    半导体器件    发布时间:2022-04-18     点击数:

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

测试样品:绝缘栅双极晶体管

测试项目

集电极-发射极短路时的栅极-发射极电压,集电极-发射极电压,最大集电极电流,最大集电极峰值电流,最大反偏安全工作区,最大短路安全工作区,集电极-发射极饱和电压,棚极-发射极阑值电压,集电极截止电流,棚极漏电流,输入电容,反向传输电容,棚极电荷,结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗,栅极内阻,开通期间的各时间间隔和开通能量,高温阻断(HTRB),高温棚极偏置,间歇工作寿命(负载循环),集电极-发射极击穿电压

绝缘栅双极晶体管测试

测试标准

GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

GB/T 34118-2017高压直流系统用电压源换流器术语

GB/T 35702.2-2017高压直流系统用电压源换流器阀损耗 第2部分:模块化多电平换流器

IEC 60747-9-2007半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)

IEC 60747-9-2019半导体器件–第9部分:分立器件–绝缘栅双极晶体管(IGBT)-版本3.0

JJF (电子)0061-2021半导体直流参数验证件校准规范

QC/T 1136-2020电动汽车用绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块环境试验要求及试验方法

T/CEC 155-2018柔性输电用压接型绝缘栅双极晶体管(IGBT)器件的一般要求(发布稿)

T/CES 084-2021柔性直流输电用绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块应用可靠性试验规范

T/CES 085-2021压接型绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块高温反偏试验规范

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    实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

    测试流程

    绝缘栅双极晶体管流程

    注意事项

    1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

    2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

    3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

    4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

    5.如果对于(绝缘栅双极晶体管测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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