GB/T 34520.9-2021

连续碳化硅纤维测试方法　第9部分：碳含量

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-05-21
  • 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
  • 【ICS分类】49.020航空器和航天器综合

GB/T 34520.9-2021

连续碳化硅纤维测试方法　第8部分：氧含量

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-08-20
  • 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
  • 【ICS分类】49.020航空器和航天器综合

GB/T 34520.9-2021

石墨中碳化硅含量的测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JC行业标准-建材
  • 【发布日期】2023-12-20
  • 【CCS分类】Q51石墨材料
  • 【ICS分类】73.080非金属矿

GB/T 34520.9-2021

碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H26金属无损检验方法
  • 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法

GB/T 34520.9-2021

出口碳化硅分析方法 碳化硅含量的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
  • 【发布日期】1993-11-05
  • 【CCS分类】J43磨料与磨具
  • 【ICS分类】81.080耐火材料

GB/T 34520.9-2021

碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-12-31
  • 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

GB/T 34520.9-2021

金刚砂 碳化硅含量的测定 氢氟酸重量法

  • 【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
  • 【发布日期】2017-04-12
  • 【CCS分类】D52冶金辅助原料矿
  • 【ICS分类】73.080非金属矿

GB/T 34520.9-2021

碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2023-04-21
  • 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
  • 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析

GB/T 34520.9-2021

碳化硅陶瓷制品 工业计算机层析成像(CT)检测

  • 【发布单位或类别】 CN-JC行业标准-建材
  • 【发布日期】2022-09-30
  • 【CCS分类】Q32特种陶瓷
  • 【ICS分类】81.060.20陶瓷制品

GB/T 34520.9-2021

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

GB/T 34520.9-2021

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

GB/T 34520.9-2021

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

GB/T 34520.9-2021

碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2021-11-01
  • 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
  • 【ICS分类】01.040词汇

GB/T 34520.9-2021

碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2023-06-19
  • 【CCS分类】金属理化性能试验方法
  • 【ICS分类】半导体材料

GB/T 34520.9-2021

碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-12-27
  • 【CCS分类】H20/29工业技术玻璃
  • 【ICS分类】29.045半导体器分立件综合

GB/T 34520.9-2021

半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-11-25
  • 【CCS分类】Q34
  • 【ICS分类】31.080.01其他半导体分立器件

GB/T 34520.9-2021

半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第3部分:用光致发光法检测缺陷的试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2020-07-13
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.99