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相城区标准电子器件检测

原创发布者:北检院    发布时间:2024-12-07     点击数:

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T/BEA 43007-2024

电子器件微小漏率检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2024-09-11
  • 【CCS分类】电力半导体器件、部件
  • 【ICS分类】17.020计量学和测量综合

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超导电性 - 第22-1部分:超导电子器件 - 传感器和检测器的总规范

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2017-07-27
  • 【CCS分类】光电子器件综合
  • 【ICS分类】29.050导体材料

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柔性直流输电用电力电子器件技术规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2019-06-04
  • 【CCS分类】K46电子测量与仪器综合
  • 【ICS分类】31.080.30三极管

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半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-03-15
  • 【CCS分类】L50载波通信设备
  • 【ICS分类】31.080半导体分立器件

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超导电子器件 传感器和探测器通用规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2020-12-14
  • 【CCS分类】L85基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

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通信用光电子器件可靠性试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-05-31
  • 【CCS分类】M31印刷技术
  • 【ICS分类】33.180.20纤维光学和光学互连器件

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电力电子器件参数测试设备校准规范

  • 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
  • 【发布日期】2018-04-30
  • 【CCS分类】激光器件
  • 【ICS分类】航空器和航天器综合

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电力电子器件参数测试设备校准规范

  • 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
  • 【发布日期】2018-04-30
  • 【CCS分类】印刷技术
  • 【ICS分类】印制技术综合

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航空电子过程管理 电子器件使用性能 第1部分:温度升额

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-11-01
  • 【CCS分类】V04电子技术专用材料
  • 【ICS分类】49.020光电子学、激光设备

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印刷类柔性透明薄膜电子器件质量要求

  • 【发布单位或类别】 CN-CY行业标准-新闻出版
  • 【发布日期】2021-09-22
  • 【CCS分类】A17电子技术专用材料
  • 【ICS分类】37.100.01印制技术综合

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半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-05-31
  • 【CCS分类】L51电真空器件综合
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

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微电子器件测试系统自检模块校准规范

  • 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
  • 【发布日期】2019-11-11
  • 【CCS分类】电子技术专用材料
  • 【ICS分类】电子技术专用材料

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柔性透明薄膜电子器件印制过程控制要求

  • 【发布单位或类别】 CN-CY行业标准-新闻出版
  • 【发布日期】2024-05-14
  • 【CCS分类】A17载波通信设备
  • 【ICS分类】37.100.01有关质量的其他标准

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真空电子器件电子枪支架玻杆

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2008-03-10
  • 【CCS分类】L90光电子器件综合
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

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电子器件用金、银及其合金钎料

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-10-10
  • 【CCS分类】L90光电子器件综合
  • 【ICS分类】31.030光电子学、激光设备

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微波电子器件引线颜色标志

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-11-20
  • 【CCS分类】L35
  • 【ICS分类】

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电子器件用钨丝规范

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1992-11-19
  • 【CCS分类】L90
  • 【ICS分类】

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通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2007-11-14
  • 【CCS分类】M31
  • 【ICS分类】03.120.99

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半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1990-12-12
  • 【CCS分类】L50
  • 【ICS分类】31.260

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半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1995-07-24
  • 【CCS分类】L50
  • 【ICS分类】31.260

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

相城区标准电子器件检测流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(相城区标准电子器件检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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