欢迎您访问北检(北京)检测技术研究所!
试验专题 站点地图 400-635-0567

当前位置:首页 > 检测项目 > 非标实验室 > 检测标准

顶管三极管检测强度标准

原创发布者:北检院    发布时间:2024-12-07     点击数:

获取试验方案?获取试验报价?获取试验周期?

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

QJ 2493-1993

微波二、三极管验收规范

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】1993-03-29
  • 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
  • 【ICS分类】三极管

QJ 2493-1993

工业加热三极管空白详细规范 (可供认证用)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1986-04-14
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】31.080.30电子管

QJ 2493-1993

硅光敏三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

航空用半导体二、三极管技术要求

  • 【发布单位或类别】 CN-HB行业标准-航空
  • 【发布日期】1983-08-03
  • 【CCS分类】半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

航空用半导体二、三极管筛选技术条件

  • 【发布单位或类别】 CN-HB行业标准-航空
  • 【发布日期】1983-08-03
  • 【CCS分类】半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

工业加热三极管空白详细规范(可供认证用)

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】半导体三极管
  • 【ICS分类】31.100

QJ 2493-1993

3DK101型NPN硅外延平面小功率开关三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1981-09-10
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

3DK100型NPN硅外延平面小功率开关三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1981-09-10
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

3CG130型PNP硅外延平面高频小功率三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1979-09-11
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

3CG120型PNP硅外延平面高频小功率三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1979-09-11
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

3CG110型PNP硅外延平面高频小功率三极管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1979-09-11
  • 【CCS分类】L42半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

中小功率晶体三极管计量专用样管筛选方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1989-03-20
  • 【CCS分类】L42半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

硅稳流三极管动态阻抗的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-08-20
  • 【CCS分类】L42半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

半导体光敏三极管型光耦合器

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

半导体光敏三极管暗电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

硅小功率NPN三极管可靠性验证试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】1988-04-19
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

半导体光敏二、三极管光电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

QJ 2493-1993

809M三极管电子管(无S/S文件)(取代MIL-E-1/1442)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1996-01-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

顶管三极管检测强度标准流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(顶管三极管检测强度标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

  • 服务保障 一对一品质服务
  • 定制方案 提供非标定制试验方案
  • 保密协议 签订保密协议,严格保护客户隐私
  • 全国取样/寄样 全国上门取样/寄样/现场试验