YD/T 0835-1996

雪崩光电二极管检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
  • 【发布日期】1996-04-04
  • 【CCS分类】K00/09电工综合
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

YD/T 0835-1996

分布反馈激光二极管检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
  • 【发布日期】1996-04-04
  • 【CCS分类】M33光通信设备
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

YD/T 0835-1996

装有激光器和发光二极管玩具辐射的检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
  • 【发布日期】2013-11-06
  • 【CCS分类】Y57玩具
  • 【ICS分类】97.200.50玩具

YD/T 0835-1996

用卤素检漏仪(碱离子二极管)检测泄漏的标准实施规程

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2000-07-10
  • 【CCS分类】技术管理
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

YD/T 0835-1996

半导体器件、二极管、硅、视频检测器类型1N358A、1N358AR、1n359am和1N358AMR

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2004-03-24
  • 【CCS分类】半导体分立器件
  • 【ICS分类】二极管

YD/T 0835-1996

半导体UHF检测器二极管 切向灵敏度测量方法

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】M01半导体分立器件
  • 【ICS分类】31.080.10半导体器分立件综合

YD/T 0835-1996

使用卤素检漏仪(碱性离子二极管)进行泄漏检测的标准实践(2013年撤回)

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2006-12-01
  • 【CCS分类】半导体分立器件
  • 【ICS分类】31.080.01二极管

YD/T 0835-1996

半导体UHF检测器二极管 电流灵敏度测量方法

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】L40/49
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

YD/T 0835-1996

半导体UHF混合器和检测器二极管 输出噪声比的测量方法

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】L40/49
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

YD/T 0835-1996

半导体UHF混合器和检测器二极管 电压驻波比的测量方法

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】L40/49
  • 【ICS分类】31.080.10

YD/T 0835-1996

半导体器件 二极管 硅 视频检测器类型1N358A、1N358AR、1N358AM和1N358AMR

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2011-07-08
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】