GB/T 26066-2010

硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-10
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 26066-2010

法语CTP 检验检测实验室技术要求验收规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-12-28
  • 【CCS分类】P33居住与公共建筑工程
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

GB/T 26066-2010

硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2012-05-11
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200半导体材料

GB/T 26066-2010

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2020-06-02
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】半导体材料

GB/T 26066-2010

太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
  • 【发布日期】2013-10-20
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 26066-2010

重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045有关土质的其他标准

GB/T 26066-2010

硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045土壤的化学特性

GB/T 26066-2010

土壤检测 第15部分：土壤有效硅的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
  • 【发布日期】2006-07-10
  • 【CCS分类】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分类】13.080.99非金属矿

GB/T 26066-2010

土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分：有效硅含量的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
  • 【发布日期】2024-02-23
  • 【CCS分类】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分类】13.080.10金属材料试验

GB/T 26066-2010

电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范

  • 【发布单位或类别】 CN-DB63青海省地方标准
  • 【发布日期】2020-04-08
  • 【CCS分类】F23电站、电力系统运行检修
  • 【ICS分类】73.080食品试验和分析的一般方法

GB/T 26066-2010

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-10-09
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】半导体材料

GB/T 26066-2010

硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-11-27
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040粘合料、密封材料

GB/T 26066-2010

进出口食品中氟硅唑残留量检测方法 气相色谱-质谱法

  • 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
  • 【发布日期】2008-11-18
  • 【CCS分类】X04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】67.050太阳能工程

GB/T 26066-2010

硅抛光片表面质量目测检验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045犯罪行为防范

GB/T 26066-2010

硅酮结构密封胶中烷烃增塑剂检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-07-03
  • 【CCS分类】Q24密封材料
  • 【ICS分类】91.100.50其他半导体分立器件

GB/T 26066-2010

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-12-28
  • 【CCS分类】P33居住与公共建筑工程
  • 【ICS分类】金属材料的其他试验方法

GB/T 26066-2010

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】犯罪鉴定技术
  • 【ICS分类】27.160

GB/T 26066-2010

法庭科学　硅藻rbcL基因特异片段检测　毛细管电泳荧光检测法

  • 【发布单位或类别】 CN-GA行业标准-公共安全标准
  • 【发布日期】2021-10-14
  • 【CCS分类】A92电子技术专用材料
  • 【ICS分类】13.310

GB/T 26066-2010

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90金属无损检验方法
  • 【ICS分类】31.080.99

GB/T 26066-2010

碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H26
  • 【ICS分类】77.040.99