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检测抛光标准

原创发布者:北检院    发布时间:2024-12-09     点击数:

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GB/T 31351-2014

碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H26金属无损检验方法
  • 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法

GB/T 31351-2014

硅抛光片表面质量目测检验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 31351-2014

金属抛光表面质量检测及评判规则

  • 【发布单位或类别】 CN-HG行业标准-化工
  • 【发布日期】2009-02-05
  • 【CCS分类】G90化工机械与设备综合
  • 【ICS分类】71.120.01化工设备综合

GB/T 31351-2014

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-03-27
  • 【CCS分类】光电子器件综合
  • 【ICS分类】纤维光学和光学互连器件

GB/T 31351-2014

纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-16部分:检查和测量 球面抛光套管端面半径

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2007-06-29
  • 【CCS分类】L50光电子器件综合
  • 【ICS分类】33.180.20纤维光学和光学互连器件

GB/T 31351-2014

纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-30部分:检查和测量 单套管多芯光纤连接器抛光角度和光纤位置

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2007-06-29
  • 【CCS分类】L50金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】33.180.20化工产品

GB/T 31351-2014

硅抛光片表面质量目测检验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1995-04-18
  • 【CCS分类】H21金属理化性能试验方法
  • 【ICS分类】71.100半导体材料

GB/T 31351-2014

碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-12-27
  • 【CCS分类】H20/29稀土金属及其合金
  • 【ICS分类】29.045其他有色金属及其合金

GB/T 31351-2014

稀土抛光粉

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2012-11-05
  • 【CCS分类】H65光电子器件综合
  • 【ICS分类】77.120.99纤维光学和光学互连器件

GB/T 31351-2014

纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-17部分:检查和测量角度抛光型插针的端面角度

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2012-10-12
  • 【CCS分类】L50光电子器件综合
  • 【ICS分类】33.180.20纤维光学和光学互连器件

GB/T 31351-2014

纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-47部分:检查和测量 采用干涉法测量PC/APC球面抛光型插针的端面几何尺寸

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】L50其他无机化工原料
  • 【ICS分类】33.180.20其他无机化学品

GB/T 31351-2014

抛光膏

  • 【发布单位或类别】 CN-HG行业标准-化工
  • 【发布日期】2006-07-26
  • 【CCS分类】G14制药加工机械与设备
  • 【ICS分类】71.060.99化工设备

GB/T 31351-2014

胶囊抛光机

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2016-04-05
  • 【CCS分类】C92磨床
  • 【ICS分类】71.120磨床和抛光机

GB/T 31351-2014

检查和测量.单套圈多纤维连接器的抛光角度和纤维位置

  • 【发布单位或类别】 US-TIA美国电信工业协会
  • 【发布日期】2007-03-01
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

GB/T 31351-2014

抛光机

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2007-01-25
  • 【CCS分类】J55机械
  • 【ICS分类】25.080.50半导体材料

GB/T 31351-2014

硅抛光回收片

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2014-10-14
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045其他机床

GB/T 31351-2014

抛光设备工艺验证方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2018-01-18
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】纤维光学和光学互连器件

GB/T 31351-2014

抛光硅片中氧化缺陷检测的标准实施规程

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1997-06-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 31351-2014

激光加工机床 微结构检测方法 第4部分:微抛面

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2022-08-02
  • 【CCS分类】J
  • 【ICS分类】25.080.99

GB/T 31351-2014

光纤互连器件和被动元件 - 基本测试和测量程序 - 第3-16部分:检查和测量 - 球面抛光套管的端面半径

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2020-12-23
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】33.180.20

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

检测抛光标准流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(检测抛光标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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