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硅片检测国家规范检测标准

原创发布者:北检院    发布时间:2024-12-20     点击数:

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BS EN 50341-2:2001

超过交流45 kV的架空电线 国家规范方面索引

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2007-01-31
  • 【CCS分类】汽车
  • 【ICS分类】酸性蓄电池

UNE-EN 50341-2:2004

交流45kV以上架空电线第2部分:国家规范性指标

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】2004-07-16
  • 【CCS分类】金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

BS EN 50423-2:2005

超过交流1 kV至交流45 kV(含交流45 kV)的架空电线 国家规范方面索引

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2005-12-05
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

DIN VDE 0210-3/A1-DRAFT

文件草案.文件草案.超过交流45kV的架空电线.第3部分:国家规范性方面NNA

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2009-04-01
  • 【CCS分类】元素半导体材料
  • 【ICS分类】半导体材料

BS EN 50341-2-9:2017+A1:2018

超过交流1 kV的架空电线 大不列颠及北爱尔兰国家规范性方面(NNA)(基于EN 50341-1:2012)

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2018-08-07
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

DIN VDE 0293-1

标称电压1000V及以下电力装置用电缆和软线芯的识别.第1部分:附加国家规范

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2006-10-01
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

KEMENPERIN NO. 6 TAHUN 2022

关于电池电池电动汽车(电池电动汽车)的国家规范、开发土地文件及其成分浓度

  • 【发布单位或类别】 ID-LEX印尼技术法规
  • 【发布日期】2022-03-11
  • 【CCS分类】T40/49金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】29.220.20金属材料试验

DIN EN 50423-2

交流1 kV及以下45 kV及以下架空电线.第2部分:国家规范性方面索引;德文版EN 50423-2:2005

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2005-05-01
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

BS EN 50341-2-9:2017

超过交流1 kV的架空电线 大不列颠及北爱尔兰国家规范性方面(NNA)(基于EN 50341-1:2012)

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-10-31
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】半导体材料

DIN EN 50341-3-4

超过交流45kV的架空电线.第3部分:国家规范(NNA);德文版EN 50341-3-4:2001

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2002-03-01
  • 【CCS分类】元素半导体材料
  • 【ICS分类】半导体材料

DIN EN 50341-2-4

超过交流1kV的架空电线.第2-4部分:德国国家规范(NNA)(基于EN 50341-1:2012);德文版EN 50341-2-4:2016

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2016-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

GB/T 34479-2017

硅片字母数字标志规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-10-14
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 26067-2010

硅片切口尺寸测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-10
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 14140-2009

硅片直径测量方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H82
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 6619-2009

硅片弯曲度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

YS/T 28-2015

硅片包装

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 43315-2023

硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-11-27
  • 【CCS分类】H21
  • 【ICS分类】77.040

GB/T 32279-2015

硅片订货单格式输入规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-12-10
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 6621-2009

硅片表面平整度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80
  • 【ICS分类】29.045

GB/T 29055-2019

太阳能电池用多晶硅片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2019-06-04
  • 【CCS分类】H82
  • 【ICS分类】29.045

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

硅片检测国家规范检测标准流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(硅片检测国家规范检测标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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