吴中区电子器件检测检测标准
CMA资质认定
中国计量认证
CNAS认可
国家实验室认可
AAA诚信
3A诚信单位
ISO资质
拥有ISO资质认证
专利证书
众多专利证书
会员理事单位
理事单位
GB/T 37660-2019
GB/T 15651.5-2024
半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】31.080半导体分立器件
GB/T 39722-2020
超导电子器件 传感器和探测器通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-12-14
- 【CCS分类】L85电子测量与仪器综合
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 33768-2017
通信用光电子器件可靠性试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-05-31
- 【CCS分类】M31载波通信设备
- 【ICS分类】33.180.20纤维光学和光学互连器件
JJF 0013-2018
电力电子器件参数测试设备校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2018-04-30
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】航空器和航天器综合
JJF0013-2018
电力电子器件参数测试设备校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2018-04-30
- 【CCS分类】印刷技术
- 【ICS分类】印制技术综合
GB/T 34954.1-2017
航空电子过程管理 电子器件使用性能 第1部分:温度升额
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V04激光器件
- 【ICS分类】49.020光电子学、激光设备
CY/T 248-2021
印刷类柔性透明薄膜电子器件质量要求
- 【发布单位或类别】 CN-CY行业标准-新闻出版
- 【发布日期】2021-09-22
- 【CCS分类】A17印刷技术
- 【ICS分类】37.100.01印制技术综合
GB/T 15651.4-2017
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-05-31
- 【CCS分类】L51电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
JJF 0033-2019
微电子器件测试系统自检模块校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2019-11-11
- 【CCS分类】电子技术专用材料
- 【ICS分类】电子技术专用材料
CY/T 275-2024
柔性透明薄膜电子器件印制过程控制要求
- 【发布单位或类别】 CN-CY行业标准-新闻出版
- 【发布日期】2024-05-14
- 【CCS分类】A17电子技术专用材料
- 【ICS分类】37.100.01光电子学、激光设备
SJ/T 3233-2008
真空电子器件电子枪支架玻杆
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2008-03-10
- 【CCS分类】L90电真空器件综合
- 【ICS分类】31.260有关质量的其他标准
SJ/T 10753-2015
电子器件用金、银及其合金钎料
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-10-10
- 【CCS分类】L90光电子器件综合
- 【ICS分类】31.030光电子学、激光设备
SJ 20143-1992
SJ/T 10747-1996
微波电子器件引线颜色标志
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L35光电子器件综合
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
GB/T 12565-1990
半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1990-12-12
- 【CCS分类】L50微电路综合
- 【ICS分类】31.260
GB/T 21194-2007
通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-11-14
- 【CCS分类】M31微电路综合
- 【ICS分类】03.120.99
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-07-24
- 【CCS分类】L50
- 【ICS分类】31.260
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55
- 【ICS分类】31.260