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硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2011-01-10
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2012-05-11
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【CCS分类】L55微电路综合
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
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【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
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【发布日期】2013-10-20
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
质量分级及“领跑者”评价要求 有机硅改性聚氨酯(硅PU)运动场地面层
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2024-09-20
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【CCS分类】Y55体育设施及器械
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【ICS分类】97.220.01运动设备和设施综合
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2009-10-30
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
土壤检测 第15部分:土壤有效硅的测定
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【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
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【发布日期】2006-07-10
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【CCS分类】B11土壤、水土保持
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【ICS分类】13.080.99有关土质的其他标准
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2009-10-30
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范
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【发布单位或类别】 CN-DB63青海省地方标准
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【发布日期】2020-04-08
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【CCS分类】F23电站、电力系统运行检修
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【ICS分类】73.080非金属矿
土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分:有效硅含量的测定
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【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
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【发布日期】2024-02-23
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【CCS分类】B11土壤、水土保持
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【ICS分类】13.080.10土壤的化学特性
进出口食品中氟硅唑残留量检测方法 气相色谱-质谱法
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【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
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【发布日期】2008-11-18
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【CCS分类】X04基础标准与通用方法
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【ICS分类】67.050食品试验和分析的一般方法
晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-28
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【CCS分类】石油勘探、开发与集输
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【ICS分类】27.160太阳能工程
有机硅耐久度检测系统
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2024-03-14
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【CCS分类】电子技术专用材料
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【ICS分类】35.240.01信息技术应用综合
多晶硅厂动火受限安全检测作业规范
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2019-02-13
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【CCS分类】E10/19化工
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【ICS分类】13.100职业安全、工业卫生
硅外延片检测方法
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【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
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【发布日期】1980-03-01
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【CCS分类】L90能源、核技术
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【ICS分类】橡胶
有机硅密封胶中烷烃增塑剂快速检测方法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2022-12-30
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【CCS分类】G基础标准与通用方法
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【ICS分类】83.060太阳能工程
光伏电站晶硅组件电致发光检测及缺陷判定方法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2023-09-18
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【CCS分类】F
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【ICS分类】27.160裂变物质
用直接燃烧红外检测法测定混合氧化物((U Pu)O2)烧结球团中碳(总)含量的标准试验方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2017-06-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】27.120.30裂变物质
微电路 线性 可编程电压检测器 单片硅
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【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
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【发布日期】2005-08-25
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【CCS分类】
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【ICS分类】化学分析
核能UO2 (U Gd)O2和(U Pu)O2烧结球团中氮含量的测定惰性气体萃取和电导率检测方法
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2015-03-13
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【CCS分类】
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【ICS分类】27.120.30
REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法
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【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
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【发布日期】2014-11-19
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【CCS分类】G04
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【ICS分类】71.040.40

实验仪器
测试流程

注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(硅pu检测检测标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。