GB/T 19802-2005

无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2005-06-08
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 31351-2014

碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H26金属无损检验方法
  • 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法

JB/T 13360-2018

荧光检测分析用干涉滤光片

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2018-04-30
  • 【CCS分类】N30光学仪器综合
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

GB/T 31786-2015

烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-07-03
  • 【CCS分类】X87烟草制品
  • 【ICS分类】65.160烟草、烟草制品和烟草工业设备

JJF 2046-2023

汽车检测设备用标准中性滤光片校准规范

  • 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
  • 【发布日期】2023-06-30
  • 【CCS分类】电子技术专用材料
  • 【ICS分类】其他半导体分立器件

GB/T 43493.2-2023

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】31.080.99半导体材料

GB/T 24575-2009

硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80电子技术专用材料
  • 【ICS分类】29.045其他半导体分立器件

GB/T 43493.3-2023

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90绝热、吸声、轻质与防火材料
  • 【ICS分类】31.080.99建筑物绝热

DB37/T 2369-2022

《砂浆片局压法检测砌筑砂浆抗压强度技术规程》

  • 【发布单位或类别】 CN-DB37山东省地方标准
  • 【发布日期】2022-11-24
  • 【CCS分类】Q25电子技术专用材料
  • 【ICS分类】91.120.10其他半导体分立器件

GB/T 43493.1-2023

半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L90烟草制品
  • 【ICS分类】31.080.99烟草、烟草制品和烟草工业设备

YC/T 236-2008

烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法

  • 【发布单位或类别】 CN-YC行业标准-烟草
  • 【发布日期】2008-04-14
  • 【CCS分类】X87放射卫生防护
  • 【ICS分类】65.160职业安全、工业卫生

WS 518-2017

乳腺X射线屏片摄影系统质量控制检测规范

  • 【发布单位或类别】 CN-WS行业标准-卫生
  • 【发布日期】2017-04-10
  • 【CCS分类】C57绝热、吸声、轻质与防火材料
  • 【ICS分类】13.100动物饲养和繁殖

T/CAOE T/CAOE74-2024

海洋贝类片形科吸虫PCR检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2024-02-04
  • 【CCS分类】CCS电子技术专用材料
  • 【ICS分类】65.020.30建筑物绝热

DB37/T 2369-2013

砂浆片局压法检测砌筑砂浆强度技术规程

  • 【发布单位或类别】 CN-DB37山东省地方标准
  • 【发布日期】2013-06-13
  • 【CCS分类】Q25金属理化性能试验方法
  • 【ICS分类】91.120.10旋转电机综合

T/CSEE 0361-2023

高压电机定子冲片绝缘涂层检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2023-08-14
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.160.01半导体材料

SJ 1550-1979

硅外延片检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1980-03-01
  • 【CCS分类】L90
  • 【ICS分类】薄膜和薄板

MIL MIL-B-37328 Notice 1-Cancellation

血液检测片(无S/S文件)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1989-05-26
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】薄膜和薄板

T/IAWBS 010-2019

碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-12-27
  • 【CCS分类】H20/29
  • 【ICS分类】29.045

KS M ISO 15106-1-2008

塑料薄膜和片材水蒸气透过率的测定第1部分:湿度检测传感器法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2008-10-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】83.140.10

KS M ISO 15106-3-2008

塑料薄膜和片材水蒸气透过率的测定第3部分:电解检测传感器法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2008-10-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】83.140.10