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检测cmos坏点检测标准

原创发布者：北检院发布时间：2025-01-07 点击数：

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MIL DESC 5962-88533C

微电路数字 CMOS 错误检测和校正单元单片硅（取代DESC 5962-88533A）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1994-04-20
【CCS分类】航天用液压元件与附件
【ICS分类】航空航天制造用零部件

MIL DESC 5962-88613A Notice B-Revision

微电路数字CMOS 16位错误检测和校正单元单片硅（取代DESC 5962-88613）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1991-11-25
【CCS分类】半导体光敏器件
【ICS分类】集成电路、微电子学

MIL DESC 5962-92122B

微电路数字 CMOS 32位流经错误检测和校正单元单片硅（取代DESC 5962-92122A）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1993-10-12
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-88613A

微电路数字CMOS 16位错误检测和校正单元单片硅（取代DESC 5962-88613）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1990-09-24
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-96599

微电路数字抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器单片硅

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1995-12-13
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96711C

微电路数字抗辐射先进CMOS 错误检测和校正单元三态输出单片硅（取代DESC 5962-96711）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2000-06-21
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-92201A

微电路数字高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器单片硅（取代DESC 5962-92201）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2003-04-17
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 06239A

微电路数字抗辐射先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路三态输出单片硅（取代DSCC 06239）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2007-04-17
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96582B

微电路数字抗辐射高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器单片硅（取代DESC 5962-96582）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2006-03-20
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96708C

微电路数字抗辐射先进CMOS 9位奇偶校验发生器检测器单片硅（取代DESC 5962-96708）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2000-06-14
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96721C

微电路数字抗辐射高级CMOS 错误检测和校正电路三态输出 TTL兼容输入单片硅（取代DESC 5962-96721）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2000-07-03
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96583B

微电路数字抗辐射高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入单片硅（取代DESC 5962-96583）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2006-03-20
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-96582

微电路数字抗辐射高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器单片硅（S/S由DSCC 5962-96582B提供）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1996-05-20
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-96583

微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅（由DSCC 5962-96583B提供）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1996-05-20
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-92197

微电路数字 ADVANCECD CMOS 八进制双向收发器带8位奇偶校验发生器/检测器三态输出 TTL兼容

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1993-04-20
【CCS分类】
【ICS分类】

GB/T 41033-2021

CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
【发布日期】2021-12-31
【CCS分类】V29
【ICS分类】49.035

MIL DSCC 06240A

微电路、数字、高级CMOS、抗辐射、9位可锁存收发器带奇偶校验发生器/检测器具有非反相三态输出、TTL兼容输入和输出、单片硅（取代DSCC 06240）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2007-04-17
【CCS分类】
【ICS分类】

GB/T 43063-2023

集成电路 CMOS图像传感器测试方法

【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
【发布日期】2023-09-07
【CCS分类】L54
【ICS分类】31.200

MIL DSCC 06239

微电路数字抗辐射先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路三态输出单片硅（S/S由DSCC 06239A提供）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】2006-12-21
【CCS分类】
【ICS分类】

MIL DESC 5962-93141

微电路数字高级CMOS 带奇偶校验发生器/检测器的9位可锁存收发器带非反相三态输出 TTL兼容（由DSCC 5962-93141A提供S/S）

【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
【发布日期】1993-04-16
【CCS分类】
【ICS分类】

我们的优势

仪器齐全
北检院实验室百余台大型试验仪器，适用于各种材料的样品，并且还有非标试验的工装定制服务。
技术经验
实验室工程师有着丰富的测试经验，无论是常规样品还是科研样品，都有定制化试验方案。
领域广泛
服务覆盖领域广，主要包括：材料，能源，性能测试，医药领域，生物，动物，植物等科研项目领域。
售后支持
我们提供强大的后期技术支持，如果您对于报告有疑问或者对于试验有疑问，我们可以为您提供完善的解答服务。

实验仪器

实验室仪器

测试流程

检测cmos坏点检测标准流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（检测cmos坏点检测标准）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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