检测cmos坏点检测标准
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MIL DESC 5962-88533C
微电路 数字 CMOS 错误检测和校正单元 单片硅(取代DESC 5962-88533A)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1994-04-20
- 【CCS分类】航天用液压元件与附件
- 【ICS分类】航空航天制造用零部件
MIL DESC 5962-88613A Notice B-Revision
微电路 数字CMOS 16位错误检测和校正单元 单片硅(取代DESC 5962-88613)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1991-11-25
- 【CCS分类】半导体光敏器件
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
MIL DESC 5962-92122B
微电路 数字 CMOS 32位流经错误检测和校正单元 单片硅(取代DESC 5962-92122A)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1993-10-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-88613A
微电路 数字CMOS 16位错误检测和校正单元 单片硅(取代DESC 5962-88613)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1990-09-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-96599
微电路 数字 抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1995-12-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-96711C
微电路 数字 抗辐射先进CMOS 错误检测和校正单元 三态输出 单片硅(取代DESC 5962-96711)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2000-06-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-92201A
微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-92201)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2003-04-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 06239A
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路 三态输出 单片硅(取代DSCC 06239)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2007-04-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-96582B
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-96582)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2006-03-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-96708C
微电路 数字 抗辐射先进CMOS 9位奇偶校验发生器检测器 单片硅(取代DESC 5962-96708)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2000-06-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-96721C
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 错误检测和校正电路 三态输出 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96721)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2000-07-03
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DSCC 5962-96583B
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96583)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2006-03-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-96582
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(S/S由DSCC 5962-96582B提供)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1996-05-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-96583
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅(由DSCC 5962-96583B提供)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1996-05-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-92197
微电路 数字 ADVANCECD CMOS 八进制双向收发器 带8位奇偶校验发生器/检测器 三态输出 TTL兼容
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1993-04-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 41033-2021
CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】V29
- 【ICS分类】49.035
MIL DSCC 06240A
微电路、数字、高级CMOS、抗辐射、9位可锁存收发器 带奇偶校验发生器/检测器 具有非反相三态输出、TTL兼容输入和输出、单片硅(取代DSCC 06240)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2007-04-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 43063-2023
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L54
- 【ICS分类】31.200
MIL DSCC 06239
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路 三态输出 单片硅(S/S由DSCC 06239A提供)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2006-12-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL DESC 5962-93141
微电路 数字 高级CMOS 带奇偶校验发生器/检测器的9位可锁存收发器 带非反相三态输出 TTL兼容(由DSCC 5962-93141A提供S/S)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1993-04-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】