GB/T 34363-2017

无损检测 铝合金超声标准试块制作和校验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-09-29
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 23909.2-2009

无损检测 射线透视检测 第2部分:成像装置长期稳定性的校验

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-05-26
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

SL 144.7-2008

水环境检测仪器及设备校验方法 电热鼓风干燥箱校验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SL行业标准-水利
  • 【发布日期】2008-06-17
  • 【CCS分类】N93水文与水利仪器
  • 【ICS分类】07.060地质学、气象学、水文学

JB/T 11602.2-2013

无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第2部分: 用厚滤光板法作持久校验

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2013-12-31
  • 【CCS分类】N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
  • 【ICS分类】17.180光学和光学测量

T/CEC 126-2016

六氟化硫气体分解产物检测仪校验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2016-10-21
  • 【CCS分类】N93水文与水利仪器
  • 【ICS分类】27.100电站综合

T/CEC 568-2021

SF6/N2混合气体混合比检测仪校验及现场检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2021-12-06
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.240.99其他有关输电网和配电网的设备

SMPTE RP 165-1994

用于电视位串行数字接口的错误检测校验字和状态标志

  • 【发布单位或类别】 US-SMPTE美国电影与电视工程师协会
  • 【发布日期】1994-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】数据链路层

MIL DESC 5962-96599

微电路 数字 抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1995-12-13
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】数据链路层

KS X ISO/IEC 1155-2007

信息处理-利用纵向奇偶校验检测信息报文中的错误

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2007-06-25
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】35.100.20数据链路层

MIL DSCC 5962-92201A

微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-92201)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2003-04-17
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96582B

微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-96582)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2006-03-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ISO 1155:1978

信息处理——使用纵向奇偶校验检测信息消息中的错误

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】1978-11-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】35.100.20

ISO 1155:1978

信息处理.使用纵向奇偶校验检测信息电文中的错误

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】1978-11-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】35.100.20

MIL DSCC 5962-96708C

微电路 数字 抗辐射先进CMOS 9位奇偶校验发生器检测器 单片硅(取代DESC 5962-96708)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2000-06-14
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ITU-R BT.1304

符合ITU-R BT.656和ITU-R BT.799建议的接口中错误检测和状态信息的校验和

  • 【发布单位或类别】 IX-ITU国际电信联盟
  • 【发布日期】1997-10-24
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL DSCC 5962-96583B

微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96583)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】2006-03-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL DESC 5962-87562A

单片硅12位奇偶校验发生器检测器ECL数字微电路(取代DESC 5962-87562)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1989-03-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL DESC 5962-96582

微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(S/S由DSCC 5962-96582B提供)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1996-05-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

MIL DESC 5962-96583

微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅(由DSCC 5962-96583B提供)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1996-05-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

AS 2742-1984

信息处理.使用纵向奇偶校验检测信息报文中的错误

  • 【发布单位或类别】 AU-AS澳大利亚标准
  • 【发布日期】1984-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】