注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
GB 15210-2018
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-11-19
- 【CCS分类】居住与公共建筑工程
- 【ICS分类】半导体材料
GB/T 32146.1-2015
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】P33安全防范报警系统
- 【ICS分类】无机化学综合
GB 12899-2018
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-11-19
- 【CCS分类】A91安全防范报警系统
- 【ICS分类】无机化学综合
GB 15208.1-2018
GB/T 26066-2010
GB/T 17518-2012
化工产品中硅含量测定的通用方法 还原硅钼酸盐分光光度法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】G10无机化工原料综合
- 【ICS分类】71.060.01半导体材料
GB/T 23842-2009
无机化工产品中硅含量测定通用方法 还原硅钼酸盐分光光度法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-05-18
- 【CCS分类】G10粉末冶金材料与制品
- 【ICS分类】71.060.01半导体材料
DB35/T 1873-2019
热喷涂旋转硅靶材通用技术条件
- 【发布单位或类别】 CN-DB35福建省地方标准
- 【发布日期】2019-12-19
- 【CCS分类】H72微电路综合
- 【ICS分类】77.150.99有关土质的其他标准
GB/T 28277-2012
硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-05-11
- 【CCS分类】L55半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】31.200半导体材料
DB65/T 3486-2013
太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
- 【发布日期】2013-10-20
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045太阳能工程
GB/T 24580-2009
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80土壤、水土保持
- 【ICS分类】29.045有关声学的其他标准
NY/T 1121.15-2006
土壤检测 第15部分：土壤有效硅的测定
- 【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
- 【发布日期】2006-07-10
- 【CCS分类】B11半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】13.080.99非金属矿
GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80太阳能
- 【ICS分类】29.045土壤的化学特性
DB13/T 5092-2019
太阳能级类单晶硅锭用 方籽晶通用技术要求
- 【发布单位或类别】 CN-DB13河北省地方标准
- 【发布日期】2019-11-28
- 【CCS分类】F12信息处理技术综合
- 【ICS分类】27.160无损检测
DB34/T 4739-2024
声纹检测通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-DB34安徽省地方标准
- 【发布日期】2024-04-15
- 【CCS分类】L70电站、电力系统运行检修
- 【ICS分类】17.140.99食品试验和分析的一般方法
DB63/T1781-2020
电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范
- 【发布单位或类别】 CN-DB63青海省地方标准
- 【发布日期】2020-04-08
- 【CCS分类】F23土壤、水土保持
- 【ICS分类】73.080
DB65/T 4631.9-2023
土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分：有效硅含量的测定
- 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
- 【发布日期】2024-02-23
- 【CCS分类】B11基础标准与通用方法
- 【ICS分类】13.080.10
SJ 20830-2002
铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件 通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2002-10-30
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】
JB/T 13917-2020
无损检测 工业企业无损检测通用要求
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2020-04-16
- 【CCS分类】J04
- 【ICS分类】19.100
SN/T 2236-2008
实验仪器
测试流程
注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。
3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异
5.如果对于（硅检测通用检测标准）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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服务保障 一对一品质服务
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定制方案 提供非标定制试验方案
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保密协议 签订保密协议，严格保护客户隐私
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全国取样/寄样 全国上门取样/寄样/现场试验
