单质硅检测的检测标准
CMA资质认定
中国计量认证
CNAS认可
国家实验室认可
AAA诚信
3A诚信单位
ISO资质
拥有ISO资质认证
专利证书
众多专利证书
会员理事单位
理事单位
YB/T 4766-2019
耐火材料用工业硅中单质硅和二氧化硅的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
- 【发布日期】2019-08-27
- 【CCS分类】Q40耐火材料综合
- 【ICS分类】81.080耐火材料
GB/T 26066-2010
GB/T 24580-2009
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
NY/T 1121.15-2006
土壤检测 第15部分:土壤有效硅的测定
- 【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
- 【发布日期】2006-07-10
- 【CCS分类】B11土壤、水土保持
- 【ICS分类】13.080.99有关土质的其他标准
GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
DB65/T 4631.9-2023
土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分:有效硅含量的测定
- 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
- 【发布日期】2024-02-23
- 【CCS分类】B11土壤、水土保持
- 【ICS分类】13.080.10土壤的化学特性
SY/T 7663-2022
天然气单质硫含量测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-SY行业标准-石油
- 【发布日期】2022-11-04
- 【CCS分类】E11石油地质勘探
- 【ICS分类】75.010石油及相关技术综合
SN/T 3999-2014
REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
- 【发布日期】2014-11-19
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
KS C IEC/TS 62804-1-2016
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-28
- 【CCS分类】石膏制品
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
KS C IEC/TS 62804-1-2016
光伏(PV)模块 - 用于检测潜在的降解的测试方法 - 第1部分:晶体硅
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
IEC TS 62804-1:2015
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2015-08-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
IEC TS 62804-1-1:2020
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分:晶体硅.分层
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-01-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
SN/T 2297.6-2012
石膏及石膏制品 第6部分:单质硫的测定
- 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
- 【发布日期】2012-12-12
- 【CCS分类】Q62
- 【ICS分类】91.100.10水泥、石膏、石灰、砂浆
DIN IEC/TS 62804-1
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2017-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】环保、保健和安全 (词汇)
HJ 593-2010
ASTM D8230-19
用光谱检测气相色谱法测定气体燃料样品中挥发性含硅化合物的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2019-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】75.160.30半导体材料
MIL DSCC 06239A
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路 三态输出 单片硅(取代DSCC 06239)
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2007-04-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ASTM F1727-02
抛光硅晶片中氧化诱导缺陷检测的标准实践(2003年提出)
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
MIL DESC 5962-90593
微电路 数字 双极 先进的SHCOTTKY TTL 串行数据多项式发生器/检测器单片硅
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1992-02-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GZB 141-2003
单质炸药制造工
- 【发布单位或类别】 UNKNOWN其他未分类
- 【发布日期】2003-01-23
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】