获取试验方案?获取试验报价?获取试验周期?
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
耐火材料用工业硅中单质硅和二氧化硅的测定方法
-
【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
-
【发布日期】2019-08-27
-
【CCS分类】Q40耐火材料综合
-
【ICS分类】81.080耐火材料
硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2011-01-10
-
【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
-
【ICS分类】29.045半导体材料
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2009-10-30
-
【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
-
【ICS分类】29.045半导体材料
土壤检测 第15部分:土壤有效硅的测定
-
【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
-
【发布日期】2006-07-10
-
【CCS分类】B11土壤、水土保持
-
【ICS分类】13.080.99有关土质的其他标准
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2009-10-30
-
【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
-
【ICS分类】29.045半导体材料
土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分:有效硅含量的测定
-
【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
-
【发布日期】2024-02-23
-
【CCS分类】B11土壤、水土保持
-
【ICS分类】13.080.10土壤的化学特性
天然气单质硫含量测定方法
-
【发布单位或类别】 CN-SY行业标准-石油
-
【发布日期】2022-11-04
-
【CCS分类】E11石油地质勘探
-
【ICS分类】75.010石油及相关技术综合
REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法
-
【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
-
【发布日期】2014-11-19
-
【CCS分类】G04基础标准与通用方法
-
【ICS分类】71.040.40化学分析
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅
-
【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
-
【发布日期】2016-12-28
-
【CCS分类】石膏制品
-
【ICS分类】27.160太阳能工程
光伏(PV)模块 - 用于检测潜在的降解的测试方法 - 第1部分:晶体硅
-
【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
-
【发布日期】2016-12-28
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】27.160太阳能工程
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅
-
【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
-
【发布日期】2015-08-06
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】27.160太阳能工程
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分:晶体硅.分层
-
【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
-
【发布日期】2020-01-10
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】27.160太阳能工程
石膏及石膏制品 第6部分:单质硫的测定
-
【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
-
【发布日期】2012-12-12
-
【CCS分类】Q62
-
【ICS分类】91.100.10水泥、石膏、石灰、砂浆
光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)
-
【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
-
【发布日期】2017-05-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】环保、保健和安全 (词汇)
水质 单质磷的测定 磷钼蓝分光光度法
-
【发布单位或类别】 CN-HJ行业标准-环保
-
【发布日期】2010-10-21
-
【CCS分类】z
-
【ICS分类】01.040.13气体燃料
用光谱检测气相色谱法测定气体燃料样品中挥发性含硅化合物的标准试验方法
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2019-06-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】75.160.30半导体材料
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路 三态输出 单片硅(取代DSCC 06239)
-
【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
-
【发布日期】2007-04-17
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】
抛光硅晶片中氧化诱导缺陷检测的标准实践(2003年提出)
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2002-12-10
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】29.045
微电路 数字 双极 先进的SHCOTTKY TTL 串行数据多项式发生器/检测器单片硅
-
【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
-
【发布日期】1992-02-06
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】
单质炸药制造工
-
【发布单位或类别】 UNKNOWN其他未分类
-
【发布日期】2003-01-23
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】

实验仪器
测试流程

注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(单质硅检测的检测标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。