ASTM F1259-89

检测因电迁移引起的金属化开路或电阻增加故障的扁平、直线测试结构的设计指南

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1989-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.050导体材料

ASTM F1259M-96

检测金属化开路或因电迁移引起的电阻增加故障的扁平直线试验结构的设计标准指南[米制]

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1996-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】17.220.20电和磁量值的测量

ASTM F1259M-96

用于检测金属化开路或电迁移的电阻增加故障的扁平直线测试结构设计标准指南[度量]（撤回2009年）

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1996-06-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】