国际检测片检测标准
CMA资质认定
中国计量认证
CNAS认可
国家实验室认可
AAA诚信
3A诚信单位
ISO资质
拥有ISO资质认证
专利证书
众多专利证书
会员理事单位
理事单位
GB/T 19802-2005
无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-06-08
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100无损检测
GB/T 31351-2014
JB/T 13360-2018
荧光检测分析用干涉滤光片
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2018-04-30
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
GB/T 31786-2015
烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-07-03
- 【CCS分类】X87烟草制品
- 【ICS分类】65.160烟草、烟草制品和烟草工业设备
JJF 2046-2023
汽车检测设备用标准中性滤光片校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2023-06-30
- 【CCS分类】电子技术专用材料
- 【ICS分类】其他半导体分立器件
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 43493.3-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】31.080.99半导体材料
GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80绝热、吸声、轻质与防火材料
- 【ICS分类】29.045建筑物绝热
DB37/T 2369-2022
《砂浆片局压法检测砌筑砂浆抗压强度技术规程》
- 【发布单位或类别】 CN-DB37山东省地方标准
- 【发布日期】2022-11-24
- 【CCS分类】Q25电子技术专用材料
- 【ICS分类】91.120.10其他半导体分立器件
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90卫生检疫
- 【ICS分类】31.080.99医学科学和保健装置综合
SN/T 3553-2013
国际航行船舶压舱水重金属及农药残留检测规程
- 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
- 【发布日期】2013-03-01
- 【CCS分类】C62烟草制品
- 【ICS分类】11.020烟草、烟草制品和烟草工业设备
YC/T 236-2008
烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法
- 【发布单位或类别】 CN-YC行业标准-烟草
- 【发布日期】2008-04-14
- 【CCS分类】X87放射卫生防护
- 【ICS分类】65.160职业安全、工业卫生
WS 518-2017
乳腺X射线屏片摄影系统质量控制检测规范
- 【发布单位或类别】 CN-WS行业标准-卫生
- 【发布日期】2017-04-10
- 【CCS分类】C57绝热、吸声、轻质与防火材料
- 【ICS分类】13.100动物饲养和繁殖
T/CAOE T/CAOE74-2024
海洋贝类片形科吸虫PCR检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2024-02-04
- 【CCS分类】CCS电子技术专用材料
- 【ICS分类】65.020.30建筑物绝热
DB37/T 2369-2013
砂浆片局压法检测砌筑砂浆强度技术规程
- 【发布单位或类别】 CN-DB37山东省地方标准
- 【发布日期】2013-06-13
- 【CCS分类】Q25金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】91.120.10旋转电机综合
T/CSEE 0361-2023
高压电机定子冲片绝缘涂层检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2023-08-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.160.01半导体材料
SJ 1550-1979
硅外延片检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1980-03-01
- 【CCS分类】L90
- 【ICS分类】
MIL MIL-B-37328 Notice 1-Cancellation
血液检测片（无S/S文件）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1989-05-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
T/IAWBS 010-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H20/29
- 【ICS分类】29.045
IEEE/IEC 62014-5-2015
IEEE/IEC国际标准-系统和片上系统（SoC）设计中使用的电子和软件知识产权的质量
- 【发布单位或类别】 US-IEEE美国电气电子工程师学会
- 【发布日期】2015-03-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
