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国家检测硅检测标准

原创发布者:北检院    发布时间:2025-02-08     点击数:

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GB/T 26066-2010

硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-10
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB 25583-2010

食品安全国家标准 食品添加剂 硅铝酸钠

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2010-12-21
  • 【CCS分类】X09卫生、安全、劳动保护
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

GB/T 28277-2012

硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2012-05-11
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200半导体材料

DB65/T 3486-2013

太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
  • 【发布日期】2013-10-20
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB 30612-2014

食品安全国家标准 食品添加剂 聚二甲基硅氧烷及其乳液

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-04-29
  • 【CCS分类】X09卫生、安全、劳动保护
  • 【ICS分类】有关土质的其他标准

GB/T 24580-2009

重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB 5009.254-2016

食品安全国家标准 动植物油脂中聚二甲基硅氧烷的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2016-08-31
  • 【CCS分类】X09卫生、安全、劳动保护
  • 【ICS分类】非金属矿

NY/T 1121.15-2006

土壤检测 第15部分:土壤有效硅的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-NY行业标准-农业
  • 【发布日期】2006-07-10
  • 【CCS分类】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分类】13.080.99土壤的化学特性

GB/T 24575-2009

硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045食品试验和分析的一般方法

GB 11676-2012

食品安全国家标准 有机硅防粘涂料

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2012-04-25
  • 【CCS分类】X09卫生、安全、劳动保护
  • 【ICS分类】太阳能工程

DB63/T1781-2020

电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范

  • 【发布单位或类别】 CN-DB63青海省地方标准
  • 【发布日期】2020-04-08
  • 【CCS分类】F23电站、电力系统运行检修
  • 【ICS分类】73.080信息技术应用综合

DB65/T 4631.9-2023

土壤检测方法 有效态元素的测定 第9部分:有效硅含量的测定

  • 【发布单位或类别】 CN-DB65新疆维吾尔自治区地方标准
  • 【发布日期】2024-02-23
  • 【CCS分类】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分类】13.080.10职业安全、工业卫生

SN/T 2236-2008

进出口食品中氟硅唑残留量检测方法 气相色谱-质谱法

  • 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
  • 【发布日期】2008-11-18
  • 【CCS分类】X04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】67.050橡胶

20231868-Z-339

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】石油勘探、开发与集输
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

T/QGCML 3344-2024

有机硅耐久度检测系统

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2024-03-14
  • 【CCS分类】电子技术专用材料
  • 【ICS分类】35.240.01

T/CNIA 0018-2019

多晶硅厂动火受限安全检测作业规范

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-02-13
  • 【CCS分类】E10/19化工
  • 【ICS分类】13.100

SJ 1550-1979

硅外延片检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1980-03-01
  • 【CCS分类】L90能源、核技术
  • 【ICS分类】

T/FSI 088-2022

有机硅密封胶中烷烃增塑剂快速检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2022-12-30
  • 【CCS分类】G
  • 【ICS分类】83.060

T/ZJSEE 0010-2023

光伏电站晶硅组件电致发光检测及缺陷判定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2023-09-18
  • 【CCS分类】F
  • 【ICS分类】27.160

IEEE/ANSI N42.60-2019

IEEE/ANSI美国国家标准初始响应辐射/核检测培训

  • 【发布单位或类别】 US-IEEE美国电气电子工程师学会
  • 【发布日期】2019-12-12
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

国家检测硅检测标准流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(国家检测硅检测标准)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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