注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
GB/T 31351-2014
GB/T 31786-2015
烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-07-03
- 【CCS分类】X87烟草制品
- 【ICS分类】65.160烟草、烟草制品和烟草工业设备
GB/T 38898-2020
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-06-02
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】烟草、烟草制品和烟草工业设备
YC/T 236-2008
烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法
- 【发布单位或类别】 CN-YC行业标准-烟草
- 【发布日期】2008-04-14
- 【CCS分类】X87烟草制品
- 【ICS分类】65.160无损检测
JB/T 13156-2017
无损检测 工业射线照相底片光学密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2017-04-12
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100无损检测
GB/T 19802-2005
无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-06-08
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100无损检测
GB/T 35390-2017
无损检测 弹药密度工业计算机层析成像（CT）检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100无损检测
GB/T 35386-2017
无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测用密度分辨力测试卡
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100无损检测
GB/T 35839-2018
无损检测 工业计算机层析成像（CT）密度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-02-06
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】19.100金属材料无损检测
JB/T 6220-2011
无损检测仪器 射线探伤用密度计
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2011-12-20
- 【CCS分类】N78Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
- 【ICS分类】77.040.20珠宝
QB/T 2855-2007
首饰 贵金属含量的无损检测 密度综合法
- 【发布单位或类别】 CN-QB行业标准-轻工
- 【发布日期】2007-05-29
- 【CCS分类】Y88工艺美术品
- 【ICS分类】39.060其他半导体分立器件
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 43493.3-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.080.99半导体材料
T/IAWBS 010-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】29.045无损检测
EN ISO 16526-2:2020
无损检测X射线管电压的测量和评定第2部分:厚滤光片法的恒定性检验
- 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
- 【发布日期】2020-03-04
- 【CCS分类】N70/79试验机与无损探伤仪器
- 【ICS分类】19.100无损检测
BS 09/30196769 DC
BS ISO 12030 烟草和烟草制品 在这种情况下 对薄板密度偏差进行无损检测 电离辐射法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2009-03-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】薄膜和薄板
ISO 16526-2:2011
无损检测——X射线管电压的测量和评估第2部分:用厚滤光片法进行恒定性检查
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2011-12-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】19.100
JJG 452-2021
黑白密度片
- 【发布单位或类别】 CN-JJG国家计量检定规程
- 【发布日期】2021-12-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ASTM D4437/D4437M-16
用于确定用于连接柔性聚合物片材土工膜的接缝的完整性的无损检测（NDT）的标准实践
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2018-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】83.140.10
实验仪器
测试流程
注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。
3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异
5.如果对于（密度片无损检测检测标准）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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服务保障 一对一品质服务
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全国取样/寄样 全国上门取样/寄样/现场试验
