注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:安全芯片
密码算法,随机数发生器,异常检测机制,存储器访问控制机制,残余信息保护机制,PAMID,安全芯片表面准备,安全芯片表面详细分析,传输系统的物理位置探测,传输系统的FIB修改,逻辑建立模块的干扰,逻辑建立模块的修改,被动深测,测试模式的重激活,利用安全芯片的测试特性,非易失性ROM信息的泄露,主动探测,非易失性ROM信息的获取,非易失性可编程存储器的直接读取,电压对比/电子束探测,供电电源操纵,其他非侵入式操纵,电磁操纵,光注入,形象化重现功耗中隐含的信息测试
测试周期:7-15个工作日,试验可加急
GM/T 0008-2012安全芯片密码检测准则
GY/T 255-2012可下载条件接收系统技术规范
JR/T 0025.18-2018中国金融集成电路(IC)卡规范 第18部分:基于安全芯片的线上支付技术规范
JR/T 0098.2-2012中国金融移动支付 检测规范 第2部分:安全芯片
T/BFIA 007-2021金融安全芯片中央处理器安全技术规范
T/CCSA 360-2022移动互联网+智能家居系统 终端安全芯片接口技术要求
T/CSAE 251-2022V2X车载终端安全芯片处理性能测试方法
T/EMCG 001.5-2019移动智能终端密码模块技术框架 第5部分:基于安全芯片的技术架构
T/ITS 0149-2021智能交通运输系统 终端设备安全芯片 应 用接口规范
T/ZSA 67.5-2019移动智能终端密码模块技术框架 第 5 部分:基于安全芯片的技术架构
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(安全芯片测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。