注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:霍尔元件
外观,最大允许控制电流,额定控制电流,乘积灵敏度,霍尔输出电压时漂,零磁场剩余电压时漂,可逆性,电线性误差,满标度磁线性误差吗,气候试验,温度变化,恒定湿热,高温贮存,输入电阻,输出电阻,磁灵敏度,控制电流灵敏度,内阻温度系数,霍尔电压平均温度系数,热阻,可焊性,读数磁线性误差测试
测试周期:7-15个工作日,试验可加急
BS IEC 60747-14-2-2000半导体器件 第14-2部分:半导体传感器 霍尔元件
IEC 60747-14-2-2000半导体器件 第14-2部分:半导体传感器 霍尔元件
JB/T 9473-2020霍尔元件 通用技术条件
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(霍尔元件测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。