注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:锑化铟单晶片
A和B原子面,位错密度,导电类型,抛光片厚度,晶面与定向,短轴尺寸,表面粗糙度,表面质量,载流子浓度,霍尔迁移率测试
测试周期:7-15个工作日,试验可加急
红外探测器用锑化铟单晶片规范 SJ20640-1997
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(锑化铟单晶片测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。