注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:光刻胶
厚度测试,缺陷测试,气味检测,残留测试,固化试验,性能测试,成分分析,金属离子检测,指标测试等
测试周期:7-15个工作日,试验可加急
GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
T/ICMTIA 5.1-2020集成电路用 ArF 干式光刻胶
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(光刻胶测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。