注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
本次检测的样品为平面波导型(PLC)光分路器及熔融拉锥型(FBT)光分路器,包含1×4、1×8、1×16等常见分光比规格,工作波长覆盖1310 nm、1490 nm及1550 nm波段。所有样品均需满足行业标准要求,适用于光纤到户(FTTH)、数据中心等场景。
插入损耗(Insertion Loss) 插入损耗是光信号通过分路器后的功率衰减值,需满足不同分光比下的理论损耗范围。
分光比(Split Ratio) 分光比指各输出端口的功率分配比例,需验证实际分光比与标称值的一致性。
回波损耗(Return Loss) 检测输入端反射光对系统的影响,确保器件抗反射性能达标。
偏振相关损耗(PDL) 评估光信号偏振态变化引起的损耗波动,验证器件的偏振不敏感性。
温度特性(Temperature Stability) 测试器件在-40℃至+85℃环境下的性能稳定性,确保其在极端条件下的可靠性。
采用可调谐激光源发射稳定光信号,输入至分路器后,使用光功率计分别测量各输出端口的功率值,通过公式计算插入损耗及分光比。测试需覆盖全部工作波长,并重复3次取平均值。
使用光回损测试仪(OLTS),通过反射法测量输入端口的反射光功率,结合输入功率计算回波损耗值。测试时需确保连接器清洁,避免外部反射干扰。
通过偏振控制器调整输入光信号的偏振态,记录不同偏振态下各端口的最大与最小功率差值,计算PDL值。测试需覆盖360°偏振态变化。
将分路器置于高低温试验箱中,分别在-40℃、25℃、+85℃环境下恒温2小时,使用实时监测系统记录插入损耗与分光比的变化,验证温度漂移是否在允许范围内。
光分路器的性能检测是保障光纤网络稳定运行的关键环节。通过科学的测试方法与高精度仪器,可全面评估器件的损耗、分光比及环境适应性,为产品质量控制提供可靠依据。未来,随着光通信技术的迭代,检测标准与设备也将持续优化,以满足更高性能需求。
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(光分路器指标检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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