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全光纤型分支器件指标检测报告

一、检测样品

本次检测的样品为全光纤型1×2分支器件，型号为FBS-1550-50/50。样品采用单模光纤结构，设计工作波长为1550 nm，标称分光比为50:50，适用于光纤通信及传感系统。

二、检测项目

1. 插入损耗（Insertion Loss） 插入损耗是光信号通过分支器件后的功率衰减，直接影响系统传输效率。
2. 分光比（Split Ratio） 分光比表征输出端口的功率分配比例，是分支器件的核心参数。
3. 偏振相关损耗（PDL, Polarization Dependent Loss） 衡量器件对不同偏振态光信号的损耗差异。
4. 回波损耗（Return Loss） 反映输入端因反射引起的信号损耗。
5. 温度稳定性 测试器件在-10℃至70℃环境下的性能波动。

三、检测方法

1. 插入损耗检测 使用可调谐激光光源（TLS）发射1550 nm光信号，通过光功率计分别测量输入端与输出端的光功率，计算差值。
2. 分光比检测 在恒定输入功率下，同步测量两输出端口的功率值，计算分光比。
3. 偏振相关损耗检测 通过偏振控制器调节输入光的偏振态，记录不同偏振态下插入损耗的最大差值。
4. 回波损耗检测 采用光回损测试仪（OLTS）直接测量输入端反射光的功率衰减。
5. 温度稳定性测试 将器件置于高低温试验箱中，以5℃/min速率循环升降温，记录各温度点的插入损耗与分光比变化。

四、检测仪器

1. 可调谐激光光源（TLS） 波长范围：1520~1620 nm，功率稳定性≤0.02 dB。
2. 光功率计 测量精度：±0.01 dB，支持多通道同步采集。
3. 偏振控制器 可模拟0~360°偏振态变化，响应时间＜10 ms。
4. 光回损测试仪（OLTS） 动态范围≥60 dB，适用于单模光纤测试。
5. 高低温试验箱 温控范围：-40℃~100℃，波动度±0.5℃。

五、总结

全光纤型分支器件的性能直接影响光网络系统的可靠性。通过标准化的检测流程与高精度仪器，可确保器件满足插入损耗低（＜0.3 dB）、分光比偏差小（±2%）、温度稳定性优（波动＜0.1 dB）等要求，为光纤通信设备的质量控制提供数据支撑。

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实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（全光纤型分支器件指标检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。