X射线衍射粒度分析

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

信息概要

X射线衍射粒度分析是一种通过X射线衍射技术测量材料颗粒大小和分布的方法，广泛应用于材料科学、制药、化工等领域。该检测能够精确表征材料的微观结构，对于产品质量控制、工艺优化以及研发创新具有重要意义。通过第三方检测机构的专业服务，客户可以获得准确、可靠的检测数据，为生产和使用提供科学依据。

检测项目

平均粒径, 粒径分布, 晶体结构, 晶胞参数, 结晶度, 晶粒尺寸, 晶面间距, 晶型鉴定, 应力分析, 织构分析, 相含量, 相纯度, 微观应变, 宏观应变, 择优取向, 缺陷分析, 纳米颗粒表征, 多晶型分析, 非晶含量, 热稳定性

检测范围

金属粉末, 陶瓷材料, 催化剂, 纳米材料, 药物原料, 聚合物, 复合材料, 矿物, 电池材料, 涂料, 颜料, 水泥, 玻璃, 半导体材料, 磁性材料, 碳材料, 合金, 土壤, 食品添加剂, 化妆品原料

检测方法

X射线衍射法（XRD）：通过测量衍射角计算晶面间距和晶粒尺寸。

Scherrer公式法：利用衍射峰宽计算晶粒尺寸。

Williamson-Hall法：分析晶粒尺寸和微观应变。

Rietveld精修法：通过全谱拟合确定晶体结构和微观结构参数。

小角X射线散射（SAXS）：测量纳米级颗粒的尺寸和分布。

广角X射线散射（WAXS）：分析大尺寸晶体的结构信息。

Debye-Scherrer法：用于多晶样品的晶粒尺寸分析。

线形分析法：通过衍射峰形分析晶粒尺寸和应变。

粉末衍射法：适用于粉末样品的晶体结构分析。

薄膜衍射法：专门用于薄膜材料的晶体结构表征。

高温XRD：研究材料在高温下的结构变化。

低温XRD：研究材料在低温下的结构变化。

原位XRD：实时监测材料在特定环境下的结构变化。

同步辐射XRD：利用同步辐射光源提高检测分辨率。

微区XRD：对微小区域进行晶体结构分析。

检测仪器

X射线衍射仪, 小角X射线散射仪, 广角X射线散射仪, 同步辐射X射线衍射仪, 高温X射线衍射仪, 低温X射线衍射仪, 薄膜X射线衍射仪, 微区X射线衍射仪, 粉末X射线衍射仪, 原位X射线衍射仪, 应力分析仪, 织构测角仪, 晶体结构分析仪, 纳米颗粒分析仪, 多晶型分析仪

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（X射线衍射粒度分析）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。