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稀土元素质谱法测定是一种高精度、高灵敏度的检测技术,广泛应用于稀土元素的定性和定量分析。该技术通过质谱仪对样品中的稀土元素进行分离和检测,能够准确测定微量甚至痕量稀土元素的含量。检测稀土元素对于矿产开发、材料科学、环境监测、电子工业等领域具有重要意义,有助于确保产品质量、控制环境污染以及优化生产工艺。
镧,铈,镨,钕,钷,钐,铕,钆,铽,镝,钬,铒,铥,镱,镥,钪,钇,铈组稀土,钇组稀土,稀土总量
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电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):利用等离子体将样品离子化,通过质谱仪检测稀土元素。
X射线荧光光谱法(XRF):通过X射线激发样品中的稀土元素,测量其特征X射线荧光。
原子吸收光谱法(AAS):利用原子吸收特定波长的光来测定稀土元素含量。
中子活化分析法(NAA):通过中子辐照样品,测量产生的放射性核素来定量稀土元素。
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES):利用等离子体激发样品中的稀土元素,测量其特征发射光谱。
质谱同位素稀释法:通过添加已知量的同位素标准溶液,提高检测准确性。
激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS):结合激光剥蚀和ICP-MS技术,实现固体样品直接分析。
离子色谱法:分离并测定稀土元素离子。
毛细管电泳法:利用电场分离稀土元素离子。
荧光分析法:测量稀土元素特定荧光信号进行定量。
极谱法:通过电化学方法测定稀土元素。
分光光度法:利用稀土元素与特定试剂形成的络合物进行比色测定。
热电离质谱法(TIMS):通过热电离源将稀土元素离子化后进行质谱分析。
二次离子质谱法(SIMS):用离子束轰击样品表面,分析溅射出的二次离子。
辉光放电质谱法(GD-MS):利用辉光放电将样品原子化并离子化后进行质谱分析。
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1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(稀土元素质谱法测定)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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