陨石样本 同位素丰度(TIMS)
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AAA诚信
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ISO资质
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专利证书
众多专利证书
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信息概要
陨石样本同位素丰度(TIMS)检测是通过热电离质谱技术对陨石中的同位素组成进行精确分析的服务。该检测能够揭示陨石的起源、形成年代以及宇宙化学过程,对于研究太阳系演化、行星形成及地外物质成分具有重要意义。检测结果可为科研机构、天文研究单位及收藏者提供可靠的数据支持,助力宇宙科学领域的突破性发现。
检测项目
氧同位素比值, 碳同位素比值, 硫同位素比值, 氮同位素比值, 氢同位素比值, 铅同位素比值, 锶同位素比值, 钕同位素比值, 钐同位素比值, 铕同位素比值, 钆同位素比值, 镝同位素比值, 铒同位素比值, 镱同位素比值, 铀同位素比值, 钍同位素比值, 钾同位素比值, 钙同位素比值, 钛同位素比值, 铬同位素比值
检测范围
球粒陨石, 无球粒陨石, 铁陨石, 石铁陨石, 碳质球粒陨石, 普通球粒陨石, 顽辉石球粒陨石, 火星陨石, 月球陨石, 小行星陨石, 彗星尘埃陨石, 玻璃陨石, 微陨石, 陨石熔壳, 陨石基质, 陨石包体, 陨石金属相, 陨石硅酸盐相, 陨石硫化物相, 陨石氧化物相
检测方法
热电离质谱法(TIMS):通过高温电离样品中的同位素,利用磁场分离并测定其丰度。
气体质谱法:测定挥发性同位素组成,适用于轻元素分析。
激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS):微区同位素分析技术。
二次离子质谱法(SIMS):高空间分辨率同位素成像。
同位素稀释法:通过添加已知同位素标准进行定量分析。
多接收电感耦合等离子体质谱法(MC-ICP-MS):高精度同位素比值测定。
X射线荧光光谱法(XRF):主量元素组成分析。
电子探针微区分析(EPMA):微区元素分布测定。
中子活化分析(NAA):痕量元素含量检测。
傅里叶变换红外光谱法(FTIR):有机组分及矿物结构分析。
拉曼光谱法:矿物相鉴定与分子结构研究。
扫描电子显微镜(SEM):表面形貌与元素分布观察。
透射电子显微镜(TEM):纳米级矿物相分析。
热重分析法(TGA):挥发分与热稳定性测定。
X射线衍射法(XRD):矿物相组成鉴定。
检测仪器
热电离质谱仪(TIMS), 气体质谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS), 多接收电感耦合等离子体质谱仪(MC-ICP-MS), 二次离子质谱仪(SIMS), 激光剥蚀系统(LA), X射线荧光光谱仪(XRF), 电子探针微区分析仪(EPMA), 中子活化分析仪(NAA), 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR), 拉曼光谱仪, 扫描电子显微镜(SEM), 透射电子显微镜(TEM), 热重分析仪(TGA), X射线衍射仪(XRD)