激光剥蚀 微区元素成像（LA-ICP-MS）

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信息概要

激光剥蚀微区元素成像（LA-ICP-MS）是一种高精度、高灵敏度的微区元素分析技术，结合激光剥蚀系统与电感耦合等离子体质谱仪，可实现对固体样品中元素的定性和定量分析，并生成元素分布图像。该技术广泛应用于地质、材料、环境、生物等领域，能够提供微米级分辨率的元素分布信息，对于研究样品成分、成因机制、污染溯源等具有重要意义。检测的重要性在于其能够揭示样品的微观元素组成及空间分布规律，为科研、工业质量控制及环境监测提供关键数据支持。

检测项目

主量元素分析, 微量元素分析, 稀土元素分析, 贵金属元素分析, 重金属元素分析, 轻元素分析, 同位素比值测定, 元素分布成像, 元素赋存状态分析, 矿物成分鉴定, 包裹体成分分析, 环境污染物检测, 生物组织元素分析, 材料表面成分分析, 薄膜成分分析, 合金成分分析, 矿石品位测定, 土壤元素分布, 水体沉积物分析, 大气颗粒物成分分析

检测范围

地质样品, 矿物, 岩石, 土壤, 沉积物, 水体, 大气颗粒物, 生物组织, 金属材料, 合金, 陶瓷, 玻璃, 薄膜材料, 半导体材料, 电池材料, 催化剂, 环境样品, 考古样品, 珠宝玉石, 工业产品

检测方法

激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS）：通过激光剥蚀固体样品，产生的气溶胶由ICP-MS检测。

元素分布成像：通过激光扫描样品表面，生成元素空间分布图像。

定量分析：采用标准样品校准，对目标元素进行定量测定。

半定量分析：无需标准样品，快速估算元素含量。

同位素比值分析：测定样品中特定同位素的比值。

微区原位分析：对样品微小区域进行原位成分分析。

深度剖面分析：分析样品沿深度方向的元素分布。

多元素同时检测：一次分析可检测多种元素。

高分辨率成像：提供高空间分辨率的元素分布图。

包裹体分析：对矿物中流体包裹体的成分进行分析。

痕量元素检测：检测样品中极低含量的元素。

表面污染分析：分析样品表面的污染物分布。

材料成分表征：对材料的成分进行详细表征。

生物样品分析：检测生物组织中的元素分布。

环境样品检测：分析环境样品中的污染物分布。

检测仪器

激光剥蚀系统, 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）, 高分辨率激光剥蚀系统, 飞秒激光剥蚀系统, 纳秒激光剥蚀系统, 激光共聚焦显微镜, 扫描电子显微镜（SEM）, 能谱仪（EDS）, 波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF）, 能量色散X射线荧光光谱仪（ED-XRF）, 二次离子质谱仪（SIMS）, 电子探针显微分析仪（EPMA）, 原子吸收光谱仪（AAS）, 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）, 质谱成像系统

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（激光剥蚀 微区元素成像（LA-ICP-MS））还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。