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微电子焊球拉力阈值测定(JESD22-B117)

原创发布者:北检院    发布时间:2025-07-04     点击数:

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

信息概要

微电子焊球拉力阈值测定(JESD22-B117)是一项用于评估微电子封装中焊球连接可靠性的关键测试方法。该标准由JEDEC固态技术协会制定,广泛应用于半导体行业,以确保焊球在机械应力下的性能符合设计要求。检测的重要性在于,焊球连接的可靠性直接影响到电子设备的长期稳定性和耐久性,尤其是在高温、高湿或振动等恶劣环境下。通过该测试,可以提前发现焊球连接的潜在缺陷,避免因焊球失效导致的设备故障,从而提高产品质量和客户满意度。

检测项目

焊球拉力强度,焊球剪切强度,焊球断裂模式分析,焊球与基板结合力,焊球形貌检测,焊球直径测量,焊球高度测量,焊球间距检测,焊球表面粗糙度,焊球成分分析,焊球氧化程度,焊球热疲劳性能,焊球冷热冲击性能,焊球振动疲劳性能,焊球湿度敏感性,焊球回流焊性能,焊球抗腐蚀性能,焊球电迁移性能,焊球微观结构分析,焊球失效分析

检测范围

BGA封装焊球,CSP封装焊球,QFN封装焊球,LGA封装焊球,Flip Chip焊球,Wafer Level焊球,3D封装焊球,TSV焊球,PoP封装焊球,SIP封装焊球,MCM封装焊球,COB封装焊球,FCOB封装焊球,WLCSP焊球,FCBGA焊球,FCCSP焊球,EMIB焊球,CoWoS焊球,InFO焊球,SoIC焊球

检测方法

拉力测试法:通过施加垂直拉力测量焊球与基板之间的结合强度。

剪切测试法:通过施加水平剪切力评估焊球的机械性能。

光学显微镜检测:观察焊球表面形貌和断裂模式。

扫描电子显微镜(SEM)分析:对焊球微观结构进行高分辨率成像。

X射线荧光光谱(XRF):分析焊球材料的成分组成。

热疲劳测试:模拟温度循环条件下焊球的可靠性。

冷热冲击测试:评估焊球在极端温度变化下的性能。

振动疲劳测试:模拟机械振动环境对焊球的影响。

湿度敏感性测试:检测焊球在潮湿环境中的性能变化。

回流焊测试:评估焊球在高温回流过程中的稳定性。

电迁移测试:分析电流负载下焊球的可靠性。

腐蚀测试:评估焊球在腐蚀性环境中的耐久性。

断面分析:通过切割焊球观察内部结构和缺陷。

能谱分析(EDS):确定焊球表面的元素分布。

红外热成像:检测焊球在工作时的温度分布。

检测仪器

万能材料试验机,微力测试仪,光学显微镜,扫描电子显微镜,X射线荧光光谱仪,热循环试验箱,冷热冲击试验箱,振动试验台,湿度试验箱,回流焊炉,电迁移测试仪,盐雾试验箱,金相切割机,能谱分析仪,红外热像仪

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

微电子焊球拉力阈值测定(JESD22-B117)流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(微电子焊球拉力阈值测定(JESD22-B117))还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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