注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
焊点外观检查:通过显微镜观察焊点表面是否存在氧化、变色或异物附着。
腐蚀深度测量:使用精密仪器量化焊点被腐蚀的纵向渗透程度。
锡须生长检测:评估焊料在潮湿环境中自发形成导电锡须的风险。
离子污染测试:检测焊点表面残留的卤素等可导致电化学迁移的离子含量。
电导率变化率:对比腐蚀前后焊点的导电性能衰减幅度。
机械强度测试:测定腐蚀后焊点抗剪切力或拉拔力的能力。
润湿性分析:评估焊料在基材上的铺展能力是否因腐蚀而下降。
微观结构观测:通过SEM分析腐蚀对焊料晶界结构的破坏情况。
盐雾试验:模拟海洋大气环境加速腐蚀的耐受性。
湿热老化测试:在高温高湿条件下评估焊点耐久性。
硫化物腐蚀测试:检测焊点对含硫气体的敏感度。
氯离子渗透率:量化氯离子对焊点内部结构的侵蚀速度。
电化学阻抗谱:通过交流阻抗法研究腐蚀界面反应机制。
腐蚀产物成分分析:采用EDS确定氧化物的元素组成。
孔隙率检测:评估腐蚀导致的焊点内部空洞比例。
热循环腐蚀测试:结合温度交变与腐蚀环境的复合影响。
霉菌敏感性:评估有机污染物滋生霉菌对焊点的二次侵蚀。
助焊剂残留检测:测定残留助焊剂对腐蚀的催化作用。
pH值影响测试:分析不同酸碱度溶液对焊点的腐蚀速率。
振动腐蚀耦合测试:模拟机械振动与腐蚀的协同效应。
金相切片分析:通过截面制样观察腐蚀的横向扩散情况。
红外热成像检测:监测腐蚀区域因电阻增大导致的局部温升。
X射线荧光检测:无损测定焊点表面元素成分变化。
接触电阻测试:评估腐蚀导致的界面接触电阻升高。
加速寿命试验:通过强化环境参数推算实际使用寿命。
可焊性保持率:检测腐蚀后焊点的二次焊接性能。
腐蚀电位测定:通过电化学工作站获取材料的自腐蚀倾向。
腐蚀电流密度:量化单位面积上的电化学反应强度。
表面粗糙度变化:分析腐蚀导致的焊点表面形貌劣化。
元素迁移测试:检测铜、锡等金属元素在腐蚀过程中的扩散行为。
PBGA塑料球栅阵列,CBGA陶瓷球栅阵列,TBGA载带球栅阵列,MBGA金属球栅阵列,FCBGA倒装芯片球栅阵列,PBGA增强型,LFBGA低剖面球栅阵列,VFBGA极细间距球栅阵列,UBGA超薄球栅阵列,WLCSP晶圆级芯片尺寸封装,CSP芯片尺寸封装,QFN方形扁平无引脚封装,POP堆叠封装,SiP系统级封装,MCM多芯片模块,COB芯片直接绑定,FCOB倒装芯片直接绑定,SCSP堆叠芯片尺寸封装,3D封装,TSV硅通孔封装,PiP封装内堆叠,PoP封装上堆叠,FCIP倒装芯片集成封装,WBB线键合球栅阵列,HDI高密度互连板,FPC柔性电路板,Rigid-Flex刚柔结合板,HDI微孔板,埋入式元件板
目视检测法:依据IPC-A-610标准进行表面缺陷初步筛查。
扫描电镜法:利用SEM获取微米级腐蚀形貌特征。
能谱分析法:通过EDS进行腐蚀区域元素定性与半定量。
X射线衍射法:鉴定腐蚀产物的晶体结构类型。
电化学极化法:测定塔菲尔曲线获取腐蚀动力学参数。
盐雾试验法:按ASTM B117进行中性盐雾加速腐蚀。
湿热循环法:依据JESD22-A104执行温湿度交变测试。
金相切片法:通过研磨抛光观察腐蚀截面特征。
红外光谱法:分析有机污染物导致的腐蚀机制。
离子色谱法:定量检测可溶性离子污染物含量。
激光共聚焦法:三维重建腐蚀坑的立体形貌。
超声扫描法:无损检测焊点内部空洞与分层缺陷。
热重分析法:评估腐蚀产物的热稳定性与成分变化。
四点探针法:测量腐蚀导致的方阻率变化。
振动台测试法:模拟运输使用中的机械-化学耦合失效。
气相色谱法:检测挥发性腐蚀产物成分。
显微硬度法:评估腐蚀对焊点局部力学性能的影响。
荧光检测法:使用荧光染料增强微裂纹可视性。
原子力显微镜法:纳米级表征腐蚀表面拓扑结构。
电化学噪声法:监测腐蚀过程中的电流/电位波动特征。
扫描电子显微镜,能谱仪,X射线衍射仪,电化学工作站,盐雾试验箱,恒温恒湿箱,金相切割机,红外热像仪,离子色谱仪,激光共聚焦显微镜,超声波扫描仪,热重分析仪,四点探针测试仪,振动试验台,气相色谱质谱联用仪
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(BGA焊点腐蚀测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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