纳米粒子动态光散射粒径检测

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信息概要

纳米粒子动态光散射粒径检测是一种通过分析纳米粒子在溶液中的布朗运动来测定其粒径分布的技术。该技术广泛应用于材料科学、生物医药、化工等领域，对于纳米材料的质量控制、性能评估及安全性研究具有重要意义。通过精确测量纳米粒子的粒径分布，可以确保产品的稳定性、一致性和适用性，为研发和生产提供关键数据支持。

检测项目

平均粒径,粒径分布,多分散指数,Zeta电位,浓度,稳定性,团聚状态,表面电荷,分子量,流体力学半径,迁移率,电泳迁移率,折射率,吸光度,散射强度,温度依赖性,pH依赖性,离子强度影响,时间稳定性,形貌分析

检测范围

金属纳米粒子,氧化物纳米粒子,聚合物纳米粒子,碳基纳米材料,量子点,脂质体,胶束,纳米乳液,纳米纤维,纳米棒,纳米片,纳米管,纳米球,纳米复合材料,生物纳米粒子,药物载体纳米粒子,荧光纳米粒子,磁性纳米粒子,陶瓷纳米粒子,半导体纳米粒子

检测方法

动态光散射法(DLS)：通过测量纳米粒子散射光强度的波动来分析粒径分布。

电泳光散射法(ELS)：结合电泳和光散射技术测定Zeta电位和表面电荷。

静态光散射法(SLS)：通过测量散射光强度确定分子量和粒径。

纳米颗粒跟踪分析(NTA)：利用光散射和布朗运动跟踪单个纳米粒子。

场流分离-光散射联用(FFF-DLS)：通过场流分离与光散射联用提高分辨率。

离心沉降法：通过离心力分离不同粒径的纳米粒子并分析。

透射电子显微镜(TEM)：直接观察纳米粒子的形貌和尺寸。

扫描电子显微镜(SEM)：通过电子束扫描获得纳米粒子表面形貌。

原子力显微镜(AFM)：通过探针扫描测量纳米粒子的三维形貌。

X射线衍射(XRD)：通过衍射峰分析纳米粒子的晶体结构和尺寸。

小角X射线散射(SAXS)：通过X射线散射分析纳米粒子的尺寸和形状。

紫外-可见光谱(UV-Vis)：通过吸光度分析纳米粒子的光学性质。

荧光光谱法：用于荧光纳米粒子的尺寸和性质分析。

拉曼光谱法：通过拉曼散射分析纳米粒子的化学组成和结构。

质谱法：用于纳米粒子的分子量和组成分析。

检测仪器

动态光散射仪,电泳光散射仪,纳米颗粒跟踪分析仪,场流分离仪,离心沉降仪,透射电子显微镜,扫描电子显微镜,原子力显微镜,X射线衍射仪,小角X射线散射仪,紫外-可见分光光度计,荧光分光光度计,拉曼光谱仪,质谱仪,Zeta电位分析仪

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（纳米粒子动态光散射粒径检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。