注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
半导体分立器件筛选
7-15个工作日,加急实验一般5个工作日
温度循环外观及机械检验芯片目检(半导体二极管)老炼和寿命试验(IGBT)老炼(闸流晶体管)稳态工作寿命老炼(二极管、整流管、稳压管)老炼(晶体管)高温寿命
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2071
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2073
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1040
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1026、1027
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1039
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、1032
以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(半导体分立器件筛选检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。