电离辐射检测

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

检测样品：材料

检测项目：电离辐射检测

检测周期：7-15个工作日，试验可加急

检测标准

AS/NZS 2161.8-2002职业防护手套 第8 部分:防电离辐射和放射性污染 (EN 421:1994)

ASTM E1614-1994(2004)远程光纤光谱和宽带系统用硅基光纤和光缆致电离辐射感应衰减的测量方法指南

ASTM E1654-1994(2004)远程拉曼光纤分光镜检查用光纤和光缆电离辐射感应光谱变化的测量指南

ASTM F996-2011利用亚阀值电流-电压特性将由于氧化物封闭孔和界面状态引起的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阀值电压漂移分离成若干分量的试验方法

ASTM F1467-2011半导体器件和微电路的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用标准指南

BS 4094-1-1966电离辐射防护屏蔽数据推荐标准.第1部分:γ辐射的防护屏蔽

BS 4094-1-1966(R2011)电离辐射防护屏蔽数据推荐标准.第1部分:γ辐射的防护屏蔽

BS 4094-2-1971电离辐射防护屏蔽数据推荐标准.第2部分:X 辐射的防护屏蔽

BS 4094-2-1971(R2011)电离辐射防护屏蔽数据推荐标准.第2部分:X 辐射的防护屏蔽

BS 7811-2-1995确定电离辐射对绝缘材料影响的导则.第2部分:辐照和试验规程

BS EN 421-2010预防电离辐射和放射性污染的防护手套

BS EN 60544-4-2003测定电离辐射对绝缘材料的效应的指南 第4部分:在辐射环境中工作的分类体系 替代BS 7811-4:1995

BS EN 60749-18-2003半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐射(全部剂量) 校正14531:2003年7月1日

BS IEC 60692-1999核仪器法.利用电离辐射的密度计.定义和试验方法

BS IEC 61336-1996核仪器装置.利用电离辐射的厚度测量系统的定义和试验方法

BS IEC 61336-1996(R2005)核仪器装置.利用电离辐射的厚度测量系统的定义和试验方法

BS ISO 11929-4-2001电离辐射测量的检测极限和判定阈的测定 第4部分:使用无样品处理的线性标度模拟定率计测量的基本原理和应用

CEI 15-90-1997测定电离辐射对绝缘材料影响的指南.第2部分:辐射和试验程序.伯玛·伊迪兹酮

CEI 45-17-1997利用电离辐射源的电气测量系统和仪器

CEI 45-32-1997利用电离辐射的密度计.定义和试验方法. Prima Edizione

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（电离辐射检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。