扫描探针显微镜(SPM)

主要用途

扫描探针显微镜是用于纳米尺度表面表征的高分辨仪器。广泛应用于纳米技术、材料科学等领域，能够实现原子级分辨率的表面成像。

参数指标

分辨率：原子级；扫描范围：100×100μm；工作模式：接触/轻敲/非接触；最大样品高度：≥10mm。

主要样品类型

适用于纳米材料表征，包括：薄膜、纳米颗粒、分子自组装膜、生物样品等。

主要实验项目

表面形貌成像、力学性能测量、电磁性质测量、纳米刻蚀等。