试验项目:基极-发射极饱和电压,集电极基极击穿电压,发射极一基极击穿电压,集电极一发射极维持电压,共发射极正向电流传输比,集电极-基极截止电流,发射极基极截止电流,集电极-发射极截止电流,集电极-发射极饱和电压。
试验项目:工作脉宽,工作频率范围,设计与操作,维护,不模糊带宽,平均频率分辨力,测频精度,不模糊带宽,平均频率分辨力,工作灵敏度,动态范围测试等。
试验项目:输出电压,纹波抑制比,电压调整率,电流调整率,静态电流,静态电流变化,输出电压,电压调整率,电流调整率,静态电流,静态电流变化,纹波抑制比测试。测试标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996。
试验项目:压痕硬度(3层),绝缘电阻,环氢粉末固化度,压痕硬度(单层),耐光老化,耐热老化,熔体质量流动速率,全部参数,阴极剥离,剥离强度,漏点,断裂伸长率,冲击强度,冲击强度(低温)测试。
试验项目:抗冲击,阴极剥离,剥离强度(90),全部参数,不挥发物含量,表干时间,粘度,体积电阻率,耐热老化,吸水率,水蒸气渗透率,耐紫外光老化,剥离强度,厚度,基膜拉伸强度,基膜断裂拉伸应变,基膜电气强度。
试验项目:附着力,耐划伤,电气强度,体积电阻率,耐热老化,划痕测试,起泡,镜面光泽,柔韧性,绝缘电阻,附着力/黏结强度/拉伸强度,阴极剥离,针孔,耐热水浸泡,耐热水浸泡测试。