芯片剪切强度检测

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芯片剪切强度检测技术解析

在半导体封装工艺中，芯片与基板或框架的黏结强度是影响器件可靠性的关键因素之一。剪切强度检测作为评估封装质量的核心手段，能够有效验证材料界面结合力，避免因机械应力导致的开裂或失效。以下从检测样品、项目、方法及仪器等方面展开介绍。

一、检测样品

剪切强度检测的对象主要包括封装后的芯片，例如：

• **BGA（球栅阵列封装）**芯片的焊球与基板连接处；
• **QFN（方形扁平无引脚封装）**芯片的塑封体与引线框架结合面；
• CSP（芯片级封装）的硅芯片与基材黏结层。 此外，部分检测会针对晶圆级封装或裸芯片进行界面强度测试。

二、检测项目

核心检测项目为芯片剪切强度值，单位为MPa（兆帕）或N/mm²（牛/平方毫米）。辅助项目包括：

1. 断裂面分析：观察剪切后界面断裂形态，判断失效模式（如内聚破坏、界面剥离等）；
2. 重复性测试：验证同一批次样品的强度一致性；
3. 环境试验后强度：例如高温高湿（85℃/85%RH）或温度循环后的剪切强度变化。

三、检测方法

1. 机械剪切测试 依据标准JESD22-B117或IPC-9708，使用剪切工具垂直于芯片表面施加推力，直至界面分离，记录最大载荷值。适用于封装体或焊点检测。

2. 推球测试（Ball Shear Test） 针对BGA焊球，采用专用夹具固定基板，以特定速度推剪焊球，计算剪切强度。需控制推刀高度与速度，避免基板变形干扰结果。

3. 微米级局部剪切 通过微机电系统（MEMS）设备对微小区域（如铜柱凸点）进行精准施力，适用于先进封装工艺的微观界面评估。

四、检测仪器

1. 万能材料试验机 配备高精度力传感器（分辨率≤0.1N）及位移控制模块，支持多种夹具适配，满足不同封装形式的测试需求。

2. 自动剪切测试仪 集成光学定位与自动化控制系统，可批量测试并生成强度分布曲线，适用于生产线质量控制。

3. 显微剪切设备 结合显微镜与纳米级力学模块，实现微观区域剪切力的实时监测与图像记录，用于科研级分析。

五、总结

芯片剪切强度检测是确保封装可靠性的核心环节。通过科学选择样品、规范测试方法并搭配高精度仪器，可精准评估界面结合性能，为半导体器件的设计优化与失效分析提供关键数据支撑。随着先进封装技术的发展，检测技术也将向更高精度与自动化方向迭代。

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（芯片剪切强度检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。