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半导体光电耦合器检测

原创发布者:北检院    发布时间:2023-05-04     点击数:

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测样品

半导体光电耦合器

实验周期

7-15个工作日,加急实验一般5个工作日

检测项目

电流传输比CTR正向电流正向电压电流传输比低电平电源电流反向击穿电压(二极管)VR输出高电平电压反向电流发射极-集电极击穿电压 VECO集电极-发射极饱和电压 VCE(sat)集电极-发射极饱和电压集电极-发射极击穿电压暗电流反向击穿电压输出截止电流高电平电源电流输出低电平电压集电极-发射极截止电流 ICEO正向电压(输入二极管)VF输入反向漏电流 IR电流传输比

检测标准

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.2

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.1

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.17

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.14

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.3

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.6

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.7

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003 4.2

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.6.1

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.8

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003 4.1

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.15

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.1

以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

半导体光电耦合器检测流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(半导体光电耦合器检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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