注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测样品:电子电气-电子元器件半导体分立器件
检测周期:7-15个工作日,试验可加急
变频振动热冲击(温度循环)盐气(侵蚀)盐雾(侵蚀)综合温度/湿度周期试验扫频振动温度循环(空气-空气)盐雾(腐蚀)耐湿晶体管的电特性测试MOS场效应晶体管电特性测试砷化镓场效应晶体管的电特性测试二极管电特性测试
半导体分立器件试验方法GJB128-1986
半导体分立器件文字符号GB/T 11499-2001
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件外形尺寸GB/T 7581-1987
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件型号命名方法GB/T 249-2017
半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
半导体分立器件型号命名方法GB/T 249-1989
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管GB/T 4587-1994
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(半导体分立器件检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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