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信号(包括开关)和调整二极管检测

原创发布者:北检院    发布时间:2023-07-11     点击数:

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测样品

信号(包括开关)和调整二极管信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管调整二极管

实验周期

7-15个工作日,加急实验一般5个工作日

检测项目

反向漏电流 IR微分电阻 RZ正向电压 VF反向电流正向电压VF工作电压反向电流IR正向电压工作电压 VZ击穿电压V(BR)工作电压 VZ

检测标准

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.4.1

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 2

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节 2

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4011

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.2.1

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 方法IV-1-1

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 5

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 4

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节 1

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4016

《半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节2

《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995 第IV章第2节第1条

《半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节1

《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法4016

《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法4011

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 1

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节2

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.3.1

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 方法IV-1-2

《半导体分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995 /第IV章、第二节、1

《半导体 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995 /第IV章、第2节、5

《半导体 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995 /第IV章、第2节、4

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 1

以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

信号(包括开关)和调整二极管检测流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(信号(包括开关)和调整二极管检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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