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低压开关设备和控制设备用微动开关检测

原创发布者:北检院    发布时间:2023-10-24     点击数:

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测样品

低压开关设备和控制设备用微动开关电工电子设备用微动开关微动开关微动开关(0501)

实验周期

7-15个工作日,加急实验一般5个工作日

检测项目

接线端子的机械性能试验盐雾试验温度冲击操作性能试验介质耐电压绝缘电阻冲击机械寿命焊槽法耐焊接热绝缘强度接线端强度耐湿性试验接触电阻外形及安装尺寸恒定湿热电气过负荷操动参数试验外观温升试验振动尺寸和重量介电性能试验耐电压操作力稳态湿热密封零部件质量标志气候顺序电气间隙和爬电距离保护性接地端子检查触点回跳温度快速变化带电负载的机械寿命内部目检绝缘强度

检测标准

微动开关 JB/T 3022-2021 9.2.2

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.6-1997 11f

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.14

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.1

军用电子元器件筛选技术要求 GJB 7243-2011 10.3

电子设备用机电开关 第6部分: 微动开关分规范 GB/T13419-1998IEC 1020-6:1991QC960300 4.4.4

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 GB/T 5095.4-1997 6c

微动开关 JB/T 3022-2021 9.3.3.1

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.17

QC960300 4.13.4

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.7

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 GB/T 5095.8-1997 16f

低压开关设备和控制设备 第1部分:总则 GB/T 14048.1-2012 8.2.4

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.11

低压开关设备和控制设备 第1部分:总则 GB/T 14048.1-2012 附录K

微动开关 JB/T 3022-2021 7.2.2

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.6-1997 11c

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.2.4

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.5-1997 7a、7b、8a、8b、8c、10a

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.2

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.8

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.3

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2-1997 1a

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.6

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.3

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 GB/T 5095.4-1997 6d

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.6-1997 11d

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.5-1997 9a

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.4

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.4

QC960300 4.5.1

低压开关设备和控制设备 第1部分:总则 GB/T 14048.1-2012 8.3.3.3

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 GB/T 5095.7-1997 13c

低压开关设备和控制设备 第5-1部分:控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.2.1.2

QC960300 4.12.2

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3

QC960300 4.4.2

微动开关 JB/T 3022-2021 9.3.3.2

低压开关设备和控制设备 第1部分:总则 GB/T 14048.1-2012 8.3.3.4

微动开关 JB/T 3022-2021 8.1.10

微动开关 JB/T 3022-2021 6.2

QC960300 4.12.1

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2-1997 2a

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2-1997 3a

微动开关 JB/T 3022-2021 9.3.3.4

微动开关 JB/T 3022-2021 8.1.3

微动开关 JB/T 3022-2021 8.1.7

QC960300 4.7.1

QC960300 4.3.7

QC960300 4.12.3

微动开关 JB/T 3022-2021 9.2.4

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.5-1997 9c

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.18

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5

微动开关 通用技术条件 JB/T 5451-2008 6.9

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2-1997 4a

以上标准仅供参考,如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

实验仪器

实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器 实验室仪器

测试流程

低压开关设备和控制设备用微动开关检测流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。

3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异

5.如果对于(低压开关设备和控制设备用微动开关检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。

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