单晶衍射检测

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

单晶衍射检测范围

晶体学, 结晶学, 物理学, X射线衍射, 材料科学, 固体物理学, 空间群, 晶体结构, 晶体化学, 晶格缺陷, 晶体生长, 单晶制备, 晶体表面, 功能材料, 晶体管, 单晶片, 晶体生长机制, 晶体结晶, 晶体工程, 衍射峰, 晶体形貌

单晶衍射检测项目

晶体学, 表面形貌分析, 晶体结构解析, 晶体缺陷分析, 晶体生长机理, 晶体取向分析, 晶体形态分析, 晶体晶面指数, 晶体应力分析, 晶体位错分析, 晶体晶格参数测定, 晶体晶界分析, 晶体畸变分析, 晶体内应力分析, 晶体晶粒尺寸测定, 晶体轴向比, 晶体杂质分析, 晶体溶质测定, 晶体表面能测定, 晶体晶体学方向, 晶体结晶方向控制, 晶体晶面能, 晶体单晶材料鉴定

单晶衍射检测方法

单晶衍射： 该方法使用X射线或电子束照射单个晶体样品，通过测量衍射图案来确定晶体结构。

旋转晶体法： 将晶体固定在旋转器上，在X射线或电子束的照射下旋转晶体，记录不同角度下的衍射图案。

Laue方法： 在不旋转晶体的情况下，记录由晶体产生的完整衍射图案。

摇摆法： 通过不断改变入射角度或样品方向，记录多个不同方向的衍射图案，获取更全面的结构信息。

分区衍射： 将单晶体分成不同区域，分别测量每个区域的衍射数据，再组合得到整体晶体的结构。

电子衍射： 使用电子束而不是X射线照射晶体，可以获得更高分辨率的晶体结构信息。

高分辨X射线衍射： 使用高能X射线照射单晶样品，可以解析出更精细的晶体结构信息。

室温衍射： 在常温下进行衍射实验，适合一般晶体的结构分析。

常规X射线衍射： 使用常规X射线设备进行衍射实验，是一种常用的单晶衍射方法。

单晶衍射检测仪器

X射线衍射仪,电子衍射仪,中子衍射仪,原子力显微镜,扫描电子显微镜,拉曼光谱仪,红外光谱仪,核磁共振仪,质谱仪,拉曼显微镜,透射电子显微镜,原子吸收光谱仪,电子能谱仪,薄膜厚度测量仪,原子力显微镜,气相色谱仪,质子共振仪,光纤光谱仪,荧光显微镜,电感耦合等离子体发射光谱仪,电动势差扫描显微镜

单晶衍射检测标准

JJG (教委) 008-1996：四圆单晶X射线衍射仪检定规程

GB/T 42676-2023：半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

JY/T 0588-2020：单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

GB/T 5238-2019：锗单晶和锗单晶片

GB/T 12962-2015：硅单晶

GB/T 20230-2022：磷化铟单晶

QB/T 1173-2002：单晶体冰糖

SJ 20607-1996：钼酸铅单晶规范

GB/T 20229-2022：磷化镓单晶

JB/T 7996-2012(2017)：普通磨料 单晶刚玉

YS/T 42-2010(2017)：钽酸锂单晶

JB/T 7996-2012：普通磨料 单晶刚玉

YS/T 1167-2016(2017)：硅单晶腐蚀片

GB/T 26069-2022：硅单晶退火片

JB/T 11144-2011：X射线衍射仪

YS/T 1182-2016：锗单晶安全生产规范

YS/T 554-2007(2014)：铌酸锂单晶

YS/T 42-2010：钽酸锂单晶

JB/T 11144-2011(2017)：X射线衍射仪

YS/T 554-2007：铌酸锂单晶

YS/T 1167-2016：硅单晶腐蚀片

GB/T 20228-2021：砷化镓单晶

SJ 20444A-2018：铌酸锂单晶规范

GB/T 12964-2018：硅单晶抛光片

GB/T 31092-2022：蓝宝石单晶晶棒

YS/T 1182-2016(2017)：锗单晶安全生产规范

GB/T 19077-2016：粒度分析 激光衍射法

SJ/T 11450-2013(2017)：单晶炉能源消耗规范

SJ/T 11450-2013：单晶炉能源消耗规范

GB/T 29504-2013：300mm 硅单晶

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（单晶衍射检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。