注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
金属氧化物, 无机物质, 材料科学, 半导体, 硅类化合物, 硅材料, 硅元素化合物, 陶瓷材料, 玻璃材料, 硅制品, 硅微粒, 电子材料, 半导体材料, 硅晶片, 无机无机化合物, 功能性材料, 硅酸盐类材料, 硅原料, 无定形材料
水分,氧化物含量,颗粒度,比表面积,晶相组成,形貌,导电性,热导率,热膨胀系数,硬度,抗压强度,抗弯强度,介电常数,介电损耗,光学透过率,光学吸收率,光学漫反射率,热稳定性,化学稳定性,耐磨性
傅里叶变换红外光谱法:利用样品吸收红外光的特性来分析其中的化学键,适用于分析纯度和结构确定。
拉曼光谱法:测定样品散射的光谱,可用于表征样品的晶体结构和成分分析。
透射电子显微镜法:通过透射电子显微镜观察样品中的微观结构,以揭示其形貌和晶体结构。
X射线衍射分析:利用物质对X射线的衍射模式来确定样品的晶体结构和晶格参数。
电子探针微区分析法:利用电子探针分析仪器定量分析样品中的元素含量和分布。
原子力显微镜法:通过扫描样品表面的原子力显微镜来获得高分辨率的表面形貌和性质信息。
拉曼光谱显微镜法:结合拉曼光谱和显微镜技术,用于样品中微区的成分分析。
热重分析法:测定样品在控制加热条件下的重量变化,用于分析物质的热稳定性和成分含量。
原子吸收光谱法:测定样品中特定金属元素的含量,适用于溶液状样品。
红外光谱仪,紫外光谱仪,拉曼光谱仪,原子力显微镜,电子显微镜,质谱仪,液相色谱仪,气相色谱仪,荧光光谱仪,原子吸收光谱仪,荧光显微镜,共聚焦显微镜,核磁共振仪,拉曼光谱仪,电化学工作站,散射仪,动态光散射仪,显微拉曼光谱仪,透射电子显微镜,扫描电子显微镜
GB/T 35995-2018:一氧化碳
CB 1019.1-1982:一氧化碳检定管
MT/T 67-2006:一氧化碳检测管
GB/T 42721-2023:电子特气 一氧化氮
CNS 1774-1966:化学试药(一氧化铅)(密陀僧)
CNS 12824-1990:废气中一氧化碳检验法
HG/T 3556-2012:一氧化碳低温变换催化剂
HG/T 2325-2012:电子工业用粒状一氧化铅
HG/T 3556-2012(2017):一氧化碳低温变换催化剂
HG/T 3546-2011(2017):一氧化碳高温变换催化剂
HG/T 2325-2012(2017):电子工业用粒状一氧化铅
SJ/T 11517-2015(2017):电子工业用气体 一氧化碳
WS/T 114-1999:职业接触一氧化碳的生物限值
SJ/T 11517-2015:电子工业用气体 一氧化碳
HG/T 3546-2011:一氧化碳高温变换催化剂
GB/T 33435-2016:小艇 一氧化碳(CO)探测系统
HG/T 2779-2016:一氧化碳耐硫变换催化剂
MT/T 980-2006:煤矿气体检测用一氧化碳元件
GB/T 43241-2023:法庭科学 一氧化二氮检验 气相色谱-质谱法
CNS 11981-1998:防一氧化碳用自救呼吸器
MT/T 137.1-1986:矿井空气中有害气体一氧化碳测定方法
JJG (煤炭) 09-1998:一氧化碳检测报警仪检定规程
GBZ 23-2002:职业性急性一氧化碳中毒诊断标准
GB/T 29650-2013:耐火材料 抗一氧化碳性试验方法
JJG 915-2008:一氧化碳检测报警器检定规程
JJF 1421-2013:一氧化碳检测报警器型式评价大纲
HG/T 5596-2019:一氧化碳中高压耐硫变换催化剂
QX/T 273-2015:大气一氧化碳监测方法 红外气体滤光相关法
JJF 1699-2018:矿用一氧化碳检测报警器型式评价大纲
CNS 5562-1980:汽车空转时排气中之一氧化碳测量方法
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(一氧化硅检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
上一篇: 抗老化检测
下一篇: 低环境温度空气源泵(冷水)机组户用