注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
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Scanning Electron Microscopy (SEM): This method can be used to analyze the surface morphology of the sample after etching.
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS): EDS can provide information on the elemental composition of the sample post-etching.
Atomic Force Microscopy (AFM): AFM can be employed to investigate the topography and roughness of the etched surface at nanoscale level.
UV-Vis Spectroscopy: This method can be used to analyze any changes in the optical properties of the sample before and after etching.
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS): XPS can provide detailed information about the chemical composition and oxidation states of the elements on the sample surface.
扫描电子显微镜,透射电子显微镜,原子力显微镜,荧光显微镜,紫外-可见分光光度计,拉曼光谱仪, X射线衍射仪,核磁共振仪,质谱仪,热重分析仪,红外光谱仪,电化学工作站,表面等离子共振仪, X射线光电子能谱仪,激光共聚焦显微镜,等离子体发射光谱仪,场发射扫描电镜,原子力显微镜, X射线荧光光谱仪,电子自旋共振仪,超分辨荧光显微镜
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1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(刻蚀实验检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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