注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
纳米粒子平均粒径检测技术及应用分析
一、检测样品 本次检测样品为实验室合成的三种纳米材料:二氧化硅纳米颗粒(SiO₂)、氧化锌纳米颗粒(ZnO)及金纳米颗粒(Au)。样品制备采用溶胶-凝胶法(SiO₂)、水热法(ZnO)和化学还原法(Au),经离心纯化后分散于去离子水中形成稳定悬浮液。
二、检测项目
三、检测方法
动态光散射法(DLS) 通过检测纳米粒子布朗运动引起的散射光强度波动,利用Stokes-Einstein方程计算流体力学直径。该方法适用于1-1000 nm粒径范围的液态分散体系检测。
扫描电子显微镜法(SEM) 采用场发射扫描电镜在20 kV加速电压下观察纳米粒子形貌,通过ImageJ软件对200个以上粒子的投影直径进行统计分析,获得几何平均粒径。
四、检测仪器
激光粒度分析仪(Malvern Zetasizer Nano ZS) 配备633 nm He-Ne激光器,散射角设置为173°,温度控制精度±0.1℃,支持动态光散射与静态光散射联用技术。
场发射扫描电子显微镜(FEI Nova NanoSEM 450) 配置二次电子探测器,分辨率达1.0 nm@15 kV,配合低真空模式实现非导电样品直接观测。
五、检测结果分析 DLS检测显示三类样品的平均粒径分别为:SiO₂(68.5±2.3 nm)、ZnO(42.1±1.8 nm)、Au(15.6±0.9 nm)。SEM测量结果与DLS数据偏差小于8%,证实样品具有良好单分散性。PDI值均低于0.15,符合ISO 22412标准对单分散体系的判定要求。
六、技术应用 精确的粒径检测为纳米材料在药物递送、催化反应和光学器件等领域的应用提供关键参数支持。建议对高浓度样品(>1 mg/mL)采用离心稀释预处理,避免多重散射效应影响DLS测试精度。
关键词:纳米粒子,粒径分析,动态光散射,电子显微镜,材料表征
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(纳米粒子平均粒径检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
上一篇: 智能告警终端检测
下一篇: 部分负荷运行制冷检测