二氧化硅检测

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

二氧化硅检测范围

无机化合物, 氧化物, 硅化物, 材料科学, 硅类化合物, 无机材料, 金属氧化物, 硅, 硅酸盐, 电子材料, 化学化工, 硅酸盐矿物, 半导体材料, 材料工程, 矿物, 硅沙, 元素化合物, 硅石, 硅酸盐玻璃, 玻璃原料

二氧化硅检测项目

硅含量, 硅晶体结构, 硅表面形貌, 硅氧键含量, 硅氢键含量, 硅的质量分数, 硅的形态结构, 硅的纯度, 硅的晶体结构, 硅的晶格常数, 硅的微观形貌, 硅的热稳定性, 硅的热分解温度, 硅的比表面积, 硅的电导率, 硅的孔径大小, 硅的孔结构, 硅的晶粒大小, 硅的热导率, 硅的光谱特性

二氧化硅检测方法

傅里叶变换红外光谱（FTIR）
通过检测样品吸收或发射的红外光谱来确定样品中二氧化硅的存在。

拉曼光谱
利用激光散射光谱技术，检测样品中的分子振动信息，可以确定二氧化硅的存在。

X射线衍射（XRD）
通过衍射分析样品晶格结构，确定样品中是否存在二氧化硅。

热重分析（TGA）
通过在不同温度下检测样品重量的变化，确定二氧化硅的含量。

扫描电子显微镜（SEM）
通过观察样品表面形貌和结构来分析样品中是否含有二氧化硅。

能谱分析（EDS）
辅助SEM使用，通过分析样品表面元素的特征X射线能谱图谱，确定二氧化硅的存在。

原子力显微镜（AFM）
通过探测样品表面的原子尺度形貌，可以确定二氧化硅的分布情况。

气相色谱-质谱联用（GC-MS）
将样品蒸发成气态，通过气相色谱-质谱联用技术分析挥发物质，确定二氧化硅的含量。

电化学阻抗谱（EIS）
通过测定样品在交流电场下的电阻抗谱，可以判断样品中电解质与二氧化硅的相对含量。

二氧化硅检测仪器

红外光谱仪, X射线衍射仪, 电子显微镜, 热重分析仪, 红外分光光度计, 核磁共振仪, 质谱仪, 原子吸收光谱仪, 荧光光谱仪, 拉曼光谱仪,紫外-可见分光光度计, 原子荧光光谱仪, 离子色谱仪, 气相色谱仪, 液相色谱仪, 超高效液相色谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 离子色谱-质谱联用, 场发射扫描电镜, 电感耦合等离子体质谱联用仪, 等离子体质谱联用仪, 场发射电子探针

二氧化硅检测标准

HG/T 4526-2013：消光用二氧化硅

HG/T 4526-2013(2017)：消光用二氧化硅

GB/T 20020-2013：气相二氧化硅

HG/T 3062-2023：橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅 二氧化硅含量的测定

GB/T 32661-2016：球形二氧化硅微粉

HG/T 3062-2008(2014)：橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅干燥样品二氧化硅含量的测定

GB/T 21236-2007：电炉回收二氧化硅微粉

GB/T 30451-2013：有序介孔二氧化硅

HG/T 3062-2008(2017)：橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅干燥样品二氧化硅含量的测定

HG 2791-1996：食品添加剂 二氧化硅

GB/T 5195.8-2006：萤石 二氧化硅含量的测定

HG/T 6044-2022：取水定额 沉淀水合二氧化硅

HG 2791-1996(2009)：食品添加剂 二氧化硅

GB/T 36655-2018：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

JC/T 2518-2019：疏水二氧化硅气凝胶粉体

HG/T 6180-2023：二氧化硅行业绿色工厂评价要求

SJ/T 10902-1996：电子玻璃中二氧化硅的分析

SJ/T 10902-1996(2017)：电子玻璃中二氧化硅的分析

QB/T 2346-2015(2017)：口腔清洁护理用品 牙膏用二氧化硅

HG/T 3061-2020：橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅

QB/T 5684-2022：食用盐中二氧化硅的测定

HS/T 47-2014：有机表面处理二氧化硅的鉴定方法

QB/T 2346-2015：口腔清洁护理用品 牙膏用二氧化硅

SJ/T 10675-2002：电子及电器工业用二氧化硅微粉

DL/T 258-2012：煤中游离二氧化硅的测定方法

YB/T 4225-2010(2017)：石英砂中二氧化硅含量测定方法

YB/T 4225-2010：石英砂中二氧化硅含量测定方法

MT/T 255-2000：煤矿水中可溶性二氧化硅的测定方法

YB/T 505.1-2007：含钒钛炉渣 二氧化硅含量测定 重量法

YB/T 505.1-2007(2012)：含钒钛炉渣 二氧化硅含量测定 重量法

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（二氧化硅检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。