耳机测试

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

测试样品：耳机

测试项目

模拟节目信号特性电压，以A计权特性和自由场相应补偿修正的模拟节目信号特性电压，保护装置，输入功率，声压级，差频失真，额定源阻抗，额定源电动势，输入电压的限定值，额定阻抗，阻抗频率特性，特性电压，耦合腔频率响应，额定频率范围(耦合腔)，谐波失真，调制失真，不需要的声辐射，声衰减，多通道头戴耳机的串音衰减测试

测试周期：7-15个工作日，试验可加急

测试标准

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.4

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.5

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.6

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.4

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.5

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.7.4

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.2.3

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.1

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.2

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.2.1

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.22

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.3.3

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.6.2

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.6.2

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.7.2

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.7.3

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.10

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.11

声系统设备第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 GB/T12060.7-2013/6.12

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（耳机测试）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。